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复合式测量机 O-INSPECT 322/442 Industrial Metrology
复合式测量机
O-INSPECT 322/442
Industrial Metrology
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// 高 精 度 蔡 司 制 造
这一刻，结果即时呈现
我们，为这一刻而努力
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目 录
应用领域
O-INSPECT 322
O-INSPECT 442
Discovery 变焦镜头
自适应照明
白光位移传感器
VAST XXT接触式传感器
CALYPSO测量软件
上下料系统
配件
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小投资大收益
O-INSPECT 322 O-INSPECT 442
车间型
O-INSPECT 于单一系统上完美结合了光学与接触式测量技术，涵盖了各类型工件与多样化分析功能。 无需各类专用检测仪器，O-INSPEC 已然完全满足您全部的需求。
O-INSPECT 322与442机型可供您选择，两者均配备业
界顶级光学及接触式传感器系统，与众不同之处在于基
于VAST XXT扫描传感器可实现真正的3D扫描测量。
O-INSPECT 测量机设计可用于车间测量。即便在宽泛
的温度范围条件下亦可提供可靠准确的测量结果
O-INSPECT所具有的多功能性使其成为医疗技术、
塑料技术、电子与精密工程领域的理想检测方案。
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光学传感器实现了极速及高精准量测
O-INSPECT完美集成了四种设备的功能：
投影仪、三坐标测量机、轮廓仪及显微镜。
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O-INSPECT 322
O-INSPECT 322 基本参数
测量范围 [mm] X 300, Y 200, Z 200
长度测量误差，光学 (1D) [μm] 1.6 + L/200
长度测量误差，接触 (1D) [μm] 1.6 + L/200
更多数据说明请参考 O-INSPECT 技术规格。
其它配置
O-INSPECT 322，台式 CMM
• Discovery远心变焦镜头
• 照明系统
• VAST XXT扫描传感器
• 探针库位架
• 标准球
选项
• 带玻璃托盘与螺纹孔网格
托盘的上下料系统
• 校准托盘
软件
• CALYPSO
测量范围 [mm]
长度测量误差，光学 (1D) [μm]
长度测量误差，接触 (1D) [μm]
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O-INSPECT 442
O-INSPECT 442 基本参数
X 400, Y 400, Z 200
1.7 + L/250
1.7 + L/250
更多数据说明请参考 O-INSPECT 技术规格。
其它配置
• Discovery 远心变焦镜头
• 照明系统
• VAST XXT扫描探头
• 探针库位架
• 标准球
选项
• 白光位移传感器
• 转台
• 配备支架、玻璃托盘与网
格托盘的上下料系统
软件
• CALYPSO
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远心
Discovery 远心变焦镜头
蔡司显微镜Discovery 变焦镜头使得非接触快速测量细微结构
成为可能，即便不同厚度之被测对象亦可实现高精度量测，
固定式变焦确保高重复精度，Discovery提供了绝佳的光学性
能表现。
配备照明系统的
Discovery镜头 微型环形照明 同轴激光导航
同轴光
Discovery镜头
环形灯
标准摄像镜头基于中央透视法：目标越远，
于视网膜或者传感器平面上的成像即越小。
但是，远心镜头在物体轴向移动时由于不会
改变其再现比例，从而使我们获得的尺寸精
度与被测对象距离无关。
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通过红色或者蓝色同轴光照明
通过红色环形照明
自适应照明
O-INSPECT 自适应照明系统确保能够获取更佳的光学测量结
果。 双色 LED 与多样化照明角度使您能够获取最佳的特征轮
廓。 亦可基于透射光获得更理想的内外部边缘轮廓。
用于侧向照明的大功率环形光
大型环形照明提供全方位的侧
向照明。实现三维特征的更强
对比。八段环形红光与蓝光均
可自由调节及支持CNC模式下
自动开闭。颜色选择功能对于
彩色工件而言极其重要。
透射光
透射光提供最强的对比度。用
以测量开口或外边缘，例如测
量冲压件或传动装置上结构复
杂的微细结构。
同轴激光导航
镜头中心的激光导航功能可大
大简化编程过程的导航定位。更深照明角度的微型环形光
微型环形光包含四段蓝色及四
段红色LED，配合中心均布改
善深层特征的识别能力。
同轴光照明
同轴光以直角垂直照射工件。
对于深孔而言，为尺寸及形位
公差的重要照明光源。
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白光位移传感器
基于白光位移传感器以
光学方式获取 3D 结构。
罗纹结构侧视图 五十分硬币的平面度扫描
塑料盖
用于平滑与透明材质
可以在 O-INSPECT 442 上使用白光位移传感器
（选项）。它可用于进行高效光学测量 3D 结构，
基于色阶共聚焦原理获取深度信息。
优点：非接触式测量。
白光位移传感器可用
于测量反光或透明的
对象，例如：玻璃，
亦可检测高吸收率，
无光泽表面。
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真正的3D 测量 VAST XXT 扫描传感器
唯有多测量点方可准确定义元素之形状与位置
使用星形测针，则不需要更换测针。
形状评估
单点（4 点测量）
最小外接圆/最大内切
圆不同中心点的坐标
O-INSPECT 配备灵活、快速及高精度的VAST
XXT 接触式连续扫描传感器，不仅可实现单点测
量，更可高效精确测量各类形状误差。
有别于传统复合式测量机仅可相对
较高测力的单点触测，O-INSPECT
支持毫牛级别之微测力扫描，实现
更快更精准之真正意义的3D测量。
VAST XXT 支持30-125 mm 探针，
可实现深孔的快捷测量。40 mm 的
侧向探针可确保最佳的柔性，实现
不更换测针条件下测量具有复杂几
何形状的工件。
测针的灵活选择
更快测针更换
O-INSPECT 能使操作员在测量运行期间在光学和接触测量之间进行自由切换。
即便手动切换，该探针亦可自动识别，无需耗时的重复校准。
利用扫描值确定最小外接圆
基于四点的拟合圆计算
利用扫描值确定最大内切圆
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使用CALYPSO - 结果即时呈现
所有任务使用一个软件CAD 面模型与图像
CAD 线模型和摄像图像
CAD 模型、摄像图像、测量策略和偏差。
CALYPSO测量软件的使用确保了在一个视图同时展现
影像、CAD图、及测量结果。其灵活性与简易性使得
其处于测量技术关键地位。
O-INSPECT 与 CALYPSO 测量软件提供全新
的可视化功能，使O-INSPECT 全面开启了测
量机可视化的新纪元。通过它们您可以同时查
看实际状态、理论状态及偏差，更快捷诠释测
量结果。
O-INSPECT 结合高品质的测量软件平台体现更
多的优势，通过 CALYPSO 软件同时实现与其它
蔡司测量机的程序共享。 CALYPSO 使用通用、
主动概念，结合了大量的功能和灵活性。
CALYPSO 使您能够使用相同的方式快速、简单
地完成大量的测量工作。
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夹具装载系统
O-INSPECT 322 O-INSPECT 442
支撑框架
O-INSPECT上下料系统可于机器外围进行工件装
夹准备。优势在于可最大化减少占用机器的时间。
支撑框架是玻璃平板及三明治孔板
的理想基座。可放置于三个承重元
件上方。 通过两个调节螺钉可于 XZ
和 YZ 方向上进行调节。
玻璃平板
玻 璃 平 板 用 于 反 射 及 透 射 光 学 测
量 ， 尤 其 能 够 使 用 被 简 单 固 定 的
玻 璃 托 盘 简 单 地 测 量 任 意 形 状 的
零件。
三明治孔板
三明治孔板使用反射光的方法支持
所有的接触测量方法和光学测量方
法 。 此 三 明 治 孔 板 用 于 C A R F I T
CMK 夹具组件。
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配件
转台用于 O-INSPECT 442
转台使 O-INSPECT 能够执行可编程的旋
转运动，因此能够从所有侧面执行光学特
性的检测。
导轨装夹系统
工件的正确定位和牢固夹紧对于工件的精
确测量至关重要。 我们的导轨装夹系统使
您能够在光学测量期间快速、简易地完成
工件定位与装夹。
O-INSPECT 322 的校准托盘
可于O-INSPECT校准托盘上安装校准球和
玻璃校准片。 继而将整个托盘放在测量台
上，则可以减少校准的时间。
多传感器标准器
多传感器标准器用于对配备有接触与光学
传感器的坐标测量机进行精度检验，同时
提供相关评估软件平台
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印刷
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司保
留由
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供货
范围
以及
技术
开发
需要
进行
变更
的权
利。
卡尔蔡司（上海）管理有限公司 上海浦东杨高北路2005号外高桥保税区日樱南路11号科苑一层电话：(86)21-2082 1188传真：(86)21-5048 1193 E-mail: [email protected]
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