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artefactos en resonancia

Date post: 01-Jun-2018
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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    ARTEFACTOS EN RMARTEFACTOS EN RM

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Son intensidades de la seal o falsas estructuras queSon intensidades de la seal o falsas estructuras queaparecen en la imagen y que no corresponden a laaparecen en la imagen y que no corresponden a ladistriuci!n espacial de los te"idos del corte#$distriuci!n espacial de los te"idos del corte#$

    %a presencia de artefactos &ace que la imagen%a presencia de artefactos &ace que la imagenapare'ca distorsionada( sea de mala calidad o contengaapare'ca distorsionada( sea de mala calidad o contengaelementos que pueden dificultar su interpretaci!n oelementos que pueden dificultar su interpretaci!n oconducir a un diagn!stico err!neo$conducir a un diagn!stico err!neo$

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    )ueden deerse a*)ueden deerse a*

    + campo magn,tico$+ campo magn,tico$

    + susceptiilidad magn,tica$+ susceptiilidad magn,tica$

    + gradientes$+ gradientes$

    + RF$+ RF$

    + otenci!n de la imagen$+ otenci!n de la imagen$

    + pacientes$+ pacientes$

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    Campo magn,ticoCam

    po magn,tico** puede deerse a lapuede deerse a lain&omogeneidad del campo principal que responde ain&omogeneidad del campo principal que responde a

    diferentes causas$diferentes causas$

    + imperfecciones en la faricaci!n y+ imperfecciones en la faricaci!n yconstrucci!n del im-n$construcci!n del im-n$

    + imperfecciones en el s&imming .es el+ imperfecciones en el s&imming .es elproceso de compensaci!n de in&omogeneidades/$proceso de compensaci!n de in&omogeneidades/$

    + estructuras ferromagn,ticas en+ estructuras ferromagn,ticas en

    mo0imiento . ascensores( coc&es( etc/( que puedenmo0imiento . ascensores( coc&es( etc/( que puedengenerar alteraciones en el campo magn,tico principal$generar alteraciones en el campo magn,tico principal$

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    En determinadas secuencias como ser FATSAT( E)1(En determinadas secuencias como ser FATSAT( E)1(etc( es necesario reali'ar un s&imming acti0o paraetc( es necesario reali'ar un s&imming acti0o parae0itar pequeas &eterogeneidades del campo magn,ticoe0itar pequeas &eterogeneidades del campo magn,ticoprincipal en la 'ona de estudio$principal en la 'ona de estudio$

    2istinguimos*2istinguimos* ++ S&imming pasi0oS&immin

    g pasi0o* se reali'a una sola 0e'( cuando se* se reali'a una sola 0e'( cuando sereali'a el monta"e del im-n$ Consiste en la colocaci!n dereali'a el monta"e del im-n$ Consiste en la colocaci!n dedi0ersas placas de metal en determinados sitios paradi0ersas placas de metal en determinados sitios paraconseguir una uena &omogeneidad de campo principal$conseguir una uena &omogeneidad de campo principal$

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    S&imming pasi0oS&imming pasi0o

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    S&imming acti0oS&imming acti0o* se reali'a mediante oinas que* se reali'a mediante oinas quecrean campos magn,ticos adicionales para compensar lascrean campos magn,ticos adicionales para compensar las&eterogeneidades del campo magn,tico principal$&eterogeneidades del campo magn,tico principal$

    Artefacto por falta de &omogeneidadArtefacto por falta de &omogeneidadde campo magn,ticode campo magn,tico

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    Alteraciones del campo magn,ticoAlteraciones del campo magn,tico

    Cualquier alteraci!n del campo magn,tico( ya sea elCualquier alteraci!n del campo magn,tico( ya sea elprincipal( de los gradientes o del campo magn,tico localprincipal( de los gradientes o del campo magn,tico localpueden producir*pueden producir*

    + una p,rdida de fase entre los spines+ una p,rdida de fase entre los spines

    situados dentro del mismo 0o3el$situados dentro del mismo 0o3el$+ una 0ariaci!n no controlada de la+ una 0ariaci!n no controlada de la

    frecuencia de resonancia de los spines$frecuencia de resonancia de los spines$

    Estos dos efectos conducen a una disminuci!n o p,rdidaEstos dos efectos conducen a una disminuci!n o p,rdidade la seal de RM y a errores en la codificaci!nde la seal de RM y a errores en la codificaci!n

    espacial$espacial$%as alteraciones de campo magn,tico son mayores*%as alteraciones de campo magn,tico son mayores*

    + si se usan secuencias E4$+ si se usan secuencias E4$

    + en sistemas de RM de alto campo$+ en sistemas de RM de alto campo$

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    Alteraciones del campo magn,tico localAlteraciones del campo magn,tico local

    %a susceptiilidad magn,tica es una propiedad%a susceptiilidad magn,tica es una propiedadcaracter5stica de cada sustancia que refle"a el grado decaracter5stica de cada sustancia que refle"a el grado demagneti'aci!n que e3perimenta al ser sometida a unmagneti'aci!n que e3perimenta al ser sometida a uncampo magn,tico$campo magn,tico$

    Seg6n su comportamiento magn,tico se pueden estalecerSeg6n su comportamiento magn,tico se pueden estaleceruna clasificaci!n de las diferentes sustancias en 7una clasificaci!n de las diferentes sustancias en 7grupos*grupos*

    89 sustancias diamagn,ticas89 sustancias diamagn,ticas . 0> 0 ((

    susceptiilidad magn,tica positi0a$ Aumenta la intensidadsusceptiilidad magn,tica positi0a$ Aumenta la intensidaddel campo magn,tico$del campo magn,tico$

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    79 sustancias ferromagn,ticas( poseen una79 sustancias ferromagn,ticas( poseen una

    susceptiilidad magn,tica muy ele0ada$ Aumentan lasusceptiilidad magn,tica muy ele0ada$ Aumentan laintensidad de campo magn,tico en una proporci!n ele0ada$intensidad de campo magn,tico en una proporci!n ele0ada$

    Cuando en una misma regi!n e3isten sustancias conCuando en una misma regi!n e3isten sustancias condiferente susceptiilidad magn,tica( el campo magn,ticodiferente susceptiilidad magn,tica( el campo magn,tico

    local ser- en esta regi!n muy in&omog,neo$local ser- en esta regi!n muy in&omog,neo$

    Normalmente la mayor parte de los te"idos poseen unaNormalmente la mayor parte de los te"idos poseen unasusceptiilidad magn,tica parecida y las in&omogeneidadessusceptiilidad magn,tica parecida y las in&omogeneidadesson despreciales$son despreciales$

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    E3isten algunas e3cepciones*E3isten algunas e3cepciones*

    + presencia de aire* diferencia de susceptiilidad+ presencia de aire* diferencia de susceptiilidadentre aire y te"idos( produce perturaciones del campoentre aire y te"idos( produce perturaciones del campomagn,tico local( con su consiguiente p,rdida de seal$magn,tico local( con su consiguiente p,rdida de seal$

    .E"* te"idos situados en pro3imidad de senos paranasales/$.E"* te"idos situados en pro3imidad de senos paranasales/$

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    + presencia de sustancias ferromagn,ticas* pueden+ presencia de sustancias ferromagn,ticas* puedenencontrarse dentro del paciente .clips( grapas(;/ o fueraencontrarse dentro del paciente .clips( grapas(;/ o fueradel paciente( pero dentro del im-n .&orquillas(traas(;/del paciente( pero dentro del im-n .&orquillas(traas(;/

    dentro del pacientedentro del pacientefuera del paciente(fuera del paciente(dentro del im-ndentro del im-n

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    %a p,rdida de seal por la presencia de material%a p,rdida de seal por la presencia de material

    ferromagn,tico es muy importante y afecta a te"idosferromagn,tico es muy importante y afecta a te"idossituados a una distancia considerale$situados a una distancia considerale$

    %a caracter5stica de este artefacto es una p,rdida se%a caracter5stica de este artefacto es una p,rdida seseal acompaada de un orde o &alo de &iperseal$seal acompaada de un orde o &alo de &iperseal$

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    Artefacto por 2espla'amiento

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    Forma de semiluna con ausencia de seal y otra de &iperseal(en direcci!n de codificaci!n de frecuencia en 'onasdonde &ay interfase grasa9agua .gloos oculares( riones(discos inter0erterales/( tendremos A2

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    %a diferencia en frecuencias de precesi!n de un n6cleo%a diferencia en frecuencias de precesi!n de un n6cleo

    en 0irtud de su entorno qu5mico( se denominaen 0irtud de su entorno qu5mico( se denominadespla'amiento qu5mico#$despla'amiento qu5mico#$

    Se e3presa en partes por mill!n .ppm/$Se e3presa en partes por mill!n .ppm/$

    2iferencia entre la frecuencia de precesi!n de los p2iferencia entre la frecuencia de precesi!n de los p==dedela grasa asociados a un C y del agua asociado a un Ola grasa asociados a un C y del agua asociado a un O::

    es de 7(> ppm$es de 7(> ppm$El despla'amiento qu5mico es independiente del 0alor delEl despla'amiento qu5mico es independiente del 0alor delcampo magn,tico aplicado? por lo que aunque lacampo magn,tico aplicado? por lo que aunque laintensidad del campo 0ar5e( la diferencia relati0a entreintensidad del campo 0ar5e( la diferencia relati0a entrelas frecuencias de precesi!n de amas sustancias ser-las frecuencias de precesi!n de amas sustancias ser-

    siempre de 7(> ppm$siempre de 7(> ppm$

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    SolucionesSoluciones**

    + @tili'ar t,cnicas de supresi!n grasa .Stir( Fat$Sat(;/$+ @tili'ar t,cnicas de supresi!n grasa .Stir( Fat$Sat(;/$

    + Camiar la direcci!n de codificaci!n .no elimina el+ Camiar la direcci!n de codificaci!n .no elimina el

    artefacto pero en caso de diagn!stico dudoso( despla'a laartefacto pero en caso de diagn!stico dudoso( despla'a ladirecci!n del artefacto/$direcci!n del artefacto/$

    + @sar t,cnicas con un anc&o de anda mayor o con un+ @sar t,cnicas con un anc&o de anda mayor o con ungradiente de codificaci!n de frecuencias mas intenso$gradiente de codificaci!n de frecuencias mas intenso$

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    Artefacto de contorno negroArtefacto de contorno negro.ACN/.ACN/

    Es tami,n un fen!meno de despla'amiento qu5mico(Es tami,n un fen!meno de despla'amiento qu5mico(pero solo es oser0ale en las secuencias E4 y no en laspero solo es oser0ale en las secuencias E4 y no en lasSE$SE$

    2ado que las mol,culas de agua precesan a mayor2ado que las mol,culas de agua precesan a mayor0elocidad que las de grasa( en algunas ocasiones0elocidad que las de grasa( en algunas ocasiones

    coincidir-n en el espacio se pondr-n en fase .incoincidir-n en el espacio se pondr-n en fase .inp&ase/ y en otras se opondr-n totalmente( es decir quep&ase/ y en otras se opondr-n totalmente( es decir queestar-n 8B fuera de fase .out of p&ase/$estar-n 8B fuera de fase .out of p&ase/$

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    En el momento de aplicar el pulso de RF .F8 en fase/( losEn el momento de aplicar el pulso de RF .F8 en fase/( losprotones de la grasa .lancos/ y los del agua .grises/ est-nprotones de la grasa .lancos/ y los del agua .grises/ est-nen fase$ @na 0e' que cesa el pulso( su frecuencia deen fase$ @na 0e' que cesa el pulso( su frecuencia de

    precesi!n es diferente( de manera que la 0elocidad de losprecesi!n es diferente( de manera que la 0elocidad de lospp==del agua es mayor que los de la grasa$ A los 88$D msegdel agua es mayor que los de la grasa$ A los 88$D msegsu orientaci!n ser- opuesta .fuera de fase/ y 88$D msegsu orientaci!n ser- opuesta .fuera de fase/ y 88$D msegdespu,s 0ol0er-n a estar en fase$despu,s 0ol0er-n a estar en fase$

    88$D ms88$D ms

    :7$B ms:7$B msF8F8

    F8F8

    F:F:

    FFFF

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    Out of p&aseOut of p&ase

    1n p&ase1n p&ase

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    SolucionesSoluciones**

    + @tili'ar tiempos de eco en que los protones de la+ @tili'ar tiempos de eco en que los protones de lagrasa y del agua est,n en fase$grasa y del agua est,n en fase$

    + @sar secuencias SE$+ @sar secuencias SE$

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    Artefacto de -ngulo m-gicoArtefacto de -ngulo m-gico

    El col-geno .mayor constituyente de los tendones/( tieneEl col-geno .mayor constituyente de los tendones/( tienegran anisotrop5a estructural$ %os tendones muestran unagran anisotrop5a estructural$ %os tendones muestran unaintensidad muy a"a en cualquier secuencia? porque elintensidad muy a"a en cualquier secuencia? porque eltiempo de rela"aci!n T: se &ace e3tremadamente corto(tiempo de rela"aci!n T: se &ace e3tremadamente corto(pero las propiedades de una estructura anisotr!picapero las propiedades de una estructura anisotr!pica0ar5an con su direcci!n$ Seg6n su orientaci!n espacial(0ar5an con su direcci!n$ Seg6n su orientaci!n espacial(el T: del tend!n 0ar5a$el T: del tend!n 0ar5a$)ara un -ngulo de >> apro3imadamente .-ngulo)ara un -ngulo de >> apro3imadamente .-ngulom-gico/( el tiempo de rela"aci!n T: aumenta( pero elm-gico/( el tiempo de rela"aci!n T: aumenta( pero elincremento de intensidad se aprecia solo en lasincremento de intensidad se aprecia solo en lassecuencias de TE corto$secuencias de TE corto$

    aitualmente este artefacto se oser0a en tendonesaitualmente este artefacto se oser0a en tendonesde* mueca( toillo( rodilla y sore todo( manguito dede* mueca( toillo( rodilla y sore todo( manguito delos rotadores$los rotadores$

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    Artefacto de -ngulo m-gicoArtefacto de -ngulo m-gico

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    4radientes4radientes* son fundamentales en la t,cnica de RM$* son fundamentales en la t,cnica de RM$

    Cualquier tipo de prolema en los gradientes puede dar lugarCualquier tipo de prolema en los gradientes puede dar lugara una imagen con di0ersos artefactos$a una imagen con di0ersos artefactos$

    @n e"emplo de este tipo de artefacto lo constituyen las@n e"emplo de este tipo de artefacto lo constituyen lascorrientes de Eddy$corrientes de Eddy$

    + aparecen en la superficie de los materiales conductores*+ aparecen en la superficie de los materiales conductores*oinas( im-n( etc$oinas( im-n( etc$

    + constituyen residuos no deseales de gradientes+ constituyen residuos no deseales de gradientesmagn,ticos que persisten durante un tiempo 0ariale despu,smagn,ticos que persisten durante un tiempo 0ariale despu,s

    de que &aya terminado el pulso de corriente administrada ade que &aya terminado el pulso de corriente administrada alos gradientes$los gradientes$

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    Corrientes de EddyCorrientes de Eddy

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    oinas de 4radientesoinas de 4radientes

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Compensaci!n de las corrientes de EddyCompensaci!n de las corrientes de Eddy

    Sin compensarlas( los pulsos que se en05an para la acti0aci!nSin compensarlas( los pulsos que se en05an para la acti0aci!n

    de los gradientes se distorsionar5an y por lo tanto los gradientesde los gradientes se distorsionar5an y por lo tanto los gradientesno ser5an requeridos( produciendo artefactos$no ser5an requeridos( produciendo artefactos$

    M,todo para compensar utili'ar pulsos con forma talM,todo para compensar utili'ar pulsos con forma tal

    que sumados a los de lasque sumados a los de las

    corrientes de Eddy produ'cancorrientes de Eddy produ'can un pulso deseado$un pulso deseado$

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    RadiofrecuenciaRadiofrecuencia

    ++ Ruido de RFRuido de RF* pulsos usados en RM que comparten* pulsos usados en RM que compartenrango con algunas otras fuentes de RF emisiones derango con algunas otras fuentes de RF emisiones deradio( TG( etc$radio( TG( etc$

    Soluci!n* apantallamiento Haula de Faraday$Soluci!n* apantallamiento Haula de Faraday$

    1nterferencia de RF

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    ++Ruido de RF dentro de la salaRuido de RF dentro de la sala** puede deerse apuede deerse a

    electricidad est-tica causada por suelo reali'ado conelectricidad est-tica causada por suelo reali'ado conmateriales con conducti0idad impropia unido a a"amateriales con conducti0idad impropia unido a a"a&umedad? aparatos no compatiles con RM&umedad? aparatos no compatiles con RMtensi!metro( pulsio35metro( etc$tensi!metro( pulsio35metro( etc$

    1nterferencia de RF

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    ++ Ruido de RF del sistemaRuido de RF del sistema** deido a un maldeido a un mal

    funcionamiento de alg6n componente del sistema$funcionamiento de alg6n componente del sistema$ 2eido que no es posile eliminar por completo el ruido2eido que no es posile eliminar por completo el ruido

    dentro de la sala de e3ploraci!n( la soluci!n ser5adentro de la sala de e3ploraci!n( la soluci!n ser5aaumentar la seal de RM para que la SIR aumente y laaumentar la seal de RM para que la SIR aumente y lacalidad de la imagen final me"ore$calidad de la imagen final me"ore$

    Fallo de gradientesFallo de gradientes

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    ++ Artefacto Jipper .cremallera( l5nea central/Artefacto Jipper .cremallera( l5nea central/

    2e frecuencia cero y punto central2e frecuencia cero y punto central

    )ueden ser 0arias las causas? la mayor5a relacionadas)ueden ser 0arias las causas? la mayor5a relacionadascon prolemas de softKare y &ardKare$con prolemas de softKare y &ardKare$

    Es una l5nea central( paralela a la codificaci!n de fase(Es una l5nea central( paralela a la codificaci!n de fase(en columna cero de frecuencia$en columna cero de frecuencia$

    Es causado por una RF residual detectada por elEs causado por una RF residual detectada por elreceptor cuando el emisor no se cierra completamente$receptor cuando el emisor no se cierra completamente$

    En secuencias 4E( con gradientes ipolares se presentaEn secuencias 4E( con gradientes ipolares se presentacomo un punto de seal rillante u oscura en el centrocomo un punto de seal rillante u oscura en el centrode la imagen$de la imagen$

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    Artefacto de cremallera .Jipper( l5nea central/Artefacto de cremallera .Jipper( l5nea central/

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    2e fase cero2e fase cero**

    %5nea central de artefacto paralela a la codificaci!n de%5nea central de artefacto paralela a la codificaci!n defrecuencia y situada en la l5nea B de fase$frecuencia y situada en la l5nea B de fase$

    Causada generalmente por imperfecciones en el pulso deCausada generalmente por imperfecciones en el pulso de8B precedido de su correspondiente eco de sp5n$8B precedido de su correspondiente eco de sp5n$

    )odemos e0itarlo usando un spoiler de gradiente$)odemos e0itarlo usando un spoiler de gradiente$

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    ++ Artefacto de CrosstalL o solapamientoArtefacto de CrosstalL o solapamiento**

    Es la disminuci!n de seal en el corte deido a unEs la disminuci!n de seal en el corte deido a unsolapamiento en las frecuencias de diferentes cortes ysolapamiento en las frecuencias de diferentes cortes ypuede ser causado por*puede ser causado por*

    + cruce directo de cortes? en secuencias+ cruce directo de cortes? en secuenciasmulticortes donde ,stos tienen diferentes inclinaciones(multicortes donde ,stos tienen diferentes inclinaciones(

    al e3citar los sp5ns del 8al e3citar los sp5ns del 8erer

    corte( ,stos de desfasan(corte( ,stos de desfasan(cuando se e3citan los del :cuando se e3citan los del :dodocorte( los spins delcorte( los spins delprimero a6n no &an podido ponerse en fase( por lo queprimero a6n no &an podido ponerse en fase( por lo quese desfasar-n m-s$se desfasar-n m-s$

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    %a soluci!n radicar5a en no cru'ar los cortes donde se%a soluci!n radicar5a en no cru'ar los cortes donde seencuentren estructuras de inter,s( estimulaci!nencuentren estructuras de inter,s( estimulaci!n

    intercalada o selecti0o de la e3citaci!n de los cortes$intercalada o selecti0o de la e3citaci!n de los cortes$Otra manera ser5a mantener una distancia .gap/ entreOtra manera ser5a mantener una distancia .gap/ entre

    corte y corte m5nimo de >B del espesor de cortecorte y corte m5nimo de >B del espesor de corte$$

    crosstalL

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    Otenci!n de la imagenOtenci!n de la imagen

    ++ Artefacto de superposici!nArtefacto de superposici!n.solapamiento( aliasing(.solapamiento( aliasing(Krap around( dolamiento( etc/Krap around( dolamiento( etc/

    es la superposici!n no deseada de una estructuraes la superposici!n no deseada de una estructuralocali'ada fuera del FOG y representada dentro de ,ste enlocali'ada fuera del FOG y representada dentro de ,ste enel lado opuesto$ Ocurre en la direcci!n de la codificaci!nel lado opuesto$ Ocurre en la direcci!n de la codificaci!nde frecuencia como de fase$de frecuencia como de fase$

    aliasing

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    Es causado por la selecci!n de un FOG m-s pequeo queEs causado por la selecci!n de un FOG m-s pequeo queel tamao del o"eto a ser adquirido$ %a digitali'aci!n esel tamao del o"eto a ser adquirido$ %a digitali'aci!n esmenor que el rango de frecuencias en el F12 o eco(menor que el rango de frecuencias en el F12 o eco(oteniendo un muestreo insuficiente de la seal$oteniendo un muestreo insuficiente de la seal$

    2irecci!n que resulta afectada*2irecci!n que resulta afectada*

    + en direcci!n de codificaci!n de frecuencia$+ en direcci!n de codificaci!n de frecuencia$+ en direcci!n de codificaci!n de fase$+ en direcci!n de codificaci!n de fase$

    + en t,cnicas 72( en direcci!n de selecci!n de corte$+ en t,cnicas 72( en direcci!n de selecci!n de corte$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Mecanismo de producci!nMecanismo de producci!n* la seal de RM .onda continua/* la seal de RM .onda continua/no se mide de forma continuada( sino de forma discretano se mide de forma continuada( sino de forma discreta

    muestras de seal peri!dicamente( manteniendomuestras de seal peri!dicamente( manteniendoconstante elconstante el t entre muestra y muestra .inter0alo det entre muestra y muestra .inter0alo de

    muestreo/$muestreo/$)ara una interpretaci!n correcta deen otenerse)ara una interpretaci!n correcta deen otenersepor lo menos : muestras de la seal en cada ciclo .unopor lo menos : muestras de la seal en cada ciclo .unocuando es positi0o y otra cuando es negati0a/$cuando es positi0o y otra cuando es negati0a/$

    Si esto no se cumple( la onda es interpretada como unaSi esto no se cumple( la onda es interpretada como una

    seal de menor frecuencia$seal de menor frecuencia$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    SolucionesSoluciones**

    + @sando filtros anal!gicos loK pass filters#+ @sando filtros anal!gicos loK pass filters#que eliminan la seal de frecuencias no deseadas$que eliminan la seal de frecuencias no deseadas$

    E3isten an-logos para la direcci!n de fase$E3isten an-logos para la direcci!n de fase$

    + O0ersampling .foldo0er supresion( e3tended FOG/*+ O0ersampling .foldo0er supresion( e3tended FOG/*

    en direcci!n de codificaci!n de frecuencias$en direcci!n de codificaci!n de frecuencias$+ Adquisiciones intercaladas .interlea0ed/* intercalan+ Adquisiciones intercaladas .interlea0ed/* intercalan

    dos adquisisciones en direcci!n de fase$dos adquisisciones en direcci!n de fase$

    + Antenas de superficie$+ Antenas de superficie$

    + )ulsos de saturaci!n* elimina seales de te"idos que+ )ulsos de saturaci!n* elimina seales de te"idos que

    pueden causar artefactos mediante aplicaci!n depueden causar artefactos mediante aplicaci!n de

    pulsos de RF de B inmediatamente antes de lapulsos de RF de B inmediatamente antes de la

    secuencia de pulsos$secuencia de pulsos$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    + )ulsos de e3citaci!n selecti0a$+ )ulsos de e3citaci!n selecti0a$+ Camiar la direcci!n de la codificaci!n$+ Camiar la direcci!n de la codificaci!n$

    + Aumentar el FOG .suprime el artefacto pero pierde+ Aumentar el FOG .suprime el artefacto pero pierde

    resoluci!n espacial$resoluci!n espacial$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Artefacto de 4is .truncaci!n o ringing artifact/Artefacto de 4is.truncaci!n o ringing artifact/

    Se produce al limitar el rango de frecuencias espaciales queSe produce al limitar el rango de frecuencias espaciales quese codifican para la reconstrucci!n de la imagen$ Aparecense codifican para la reconstrucci!n de la imagen$ Aparecencomo una serie alternante de andas &iper e &ipointensas( quecomo una serie alternante de andas &iper e &ipointensas( quese propagan paralelamente a partir de una regi!n de la imagense propagan paralelamente a partir de una regi!n de la imagendonde e3iste un camio rusco de ordes o intensidades entredonde e3iste un camio rusco de ordes o intensidades entrete"idos adyacentes$ )uede recordar a un artefacto dete"idos adyacentes$ )uede recordar a un artefacto demo0imiento( pero su origen es diferente$mo0imiento( pero su origen es diferente$

    2irecci!n que resulta afectada2irecci!n que resulta afectada* se puede 0er tanto en* se puede 0er tanto endirecci!n de codificaci!n de frecuencia como en la de fase$direcci!n de codificaci!n de frecuencia como en la de fase$Normalmente se usan menos pasos de codificaci!n de faseNormalmente se usan menos pasos de codificaci!n de fasepara disminu5r el T$A( por lo que suelen ocurrir en esapara disminu5r el T$A( por lo que suelen ocurrir en esadirecci!n$direcci!n$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva 4is

    4is

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    SolucionesSoluciones**

    + Aumentando el tamao de la matri'?+ Aumentando el tamao de la matri'?otendremos mayor n6mero de frecuencias espaciales$otendremos mayor n6mero de frecuencias espaciales$

    + Aplicar filtros de datos rutos .anning+ Aplicar filtros de datos rutos .anningFilter/? que filtran los datos antes de proceder a laFilter/? que filtran los datos antes de proceder a la

    reconstrucci!n de la imagen$ %a ca5da del espectro dereconstrucci!n de la imagen$ %a ca5da del espectro defrecuencias &asta el 0alor cero no es tan rusco .se eliminanfrecuencias &asta el 0alor cero no es tan rusco .se eliminanlos picos/( por lo que pierde nitide' la imagen$los picos/( por lo que pierde nitide' la imagen$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Artefacto de 0olumen parcialArtefacto de 0olumenparcial

    Sucede cuando te"idos de diferentes propiedades de 1RMSucede cuando te"idos de diferentes propiedades de 1RMson inclu5das en el mismo 0!3el la seal de esteson inclu5das en el mismo 0!3el la seal de este0!3el ser- una me'cla o promedio de los mismos$0!3el ser- una me'cla o promedio de los mismos$

    Si en un mismo 0!3el &ay grasa y agua( la seal ser-Si en un mismo 0!3el &ay grasa y agua( la seal ser-igual al promedio de la cantidad de agua y grasa contenidaigual al promedio de la cantidad de agua y grasa contenidaen el mismo$ Este artefacto es factile que ocurra en laen el mismo$ Este artefacto es factile que ocurra en ladirecci!n de la selecci!n de corte de la imagen que en eldirecci!n de la selecci!n de corte de la imagen que en el0!3el de mayor dimensi!n$0!3el de mayor dimensi!n$

    Este promedio puede simular anormalidades( disminuye laEste promedio puede simular anormalidades( disminuye la0isuali'aci!n de a"o contraste$0isuali'aci!n de a"o contraste$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Artefactos de mo0imientosArtefactos de mo0imientos

    ++ Mo0imientoMo0imiento* es el tipo de artefacto que mas* es el tipo de artefacto que maspre0alece como origen de artefactos en 1RM$pre0alece como origen de artefactos en 1RM$

    )odemos clasificar en*)odemos clasificar en*

    + peri!dicos* pueden ser ciclos de mo0$ r-pidos o+ peri!dicos* pueden ser ciclos de mo0$ r-pidos o

    lentos e incluyen peristaltismo( respiraci!n( contracci!nlentos e incluyen peristaltismo( respiraci!n( contracci!ncard5aca y pulsaci!n 0ascular$card5aca y pulsaci!n 0ascular$

    + no peri!dicos o aleatorios* espasmos+ no peri!dicos o aleatorios* espasmosintestinales( mo0$ in0oluntarios( mo0$ 0oluntarios( etc$intestinales( mo0$ in0oluntarios( mo0$ 0oluntarios( etc$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    latido card5acolatido card5aco

    flu"o arterialflu"o arterial

    aortaaorta

    respiraci!nrespiraci!n

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Este tipo de artefactos ocurren porque &ayEste tipo de artefactos ocurren porque &aydespla'amientos del te"ido( que ocurren entre los pulsosdespla'amientos del te"ido( que ocurren entre los pulsos

    de la secuencia$ Si el mo0imiento ocurre en la escala dede la secuencia$ Si el mo0imiento ocurre en la escala detiempo o menos del TE otendremostiempo o menos del TE otendremos

    emorronamiento$emorronamiento$

    seal de 0ac5o$seal de 0ac5o$

    Si el mo0imiento est- en la escala de tiempo del TRSi el mo0imiento est- en la escala de tiempo del TR

    g&osting$g&osting$

    emorronamiento

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    Artefacto del %CR

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    ++ Gac5o de sealGac5o de seal** ocurre generalmente cuando elocurre generalmente cuando elte"ido en mo0imiento es perpendicular al e"e del corte$te"ido en mo0imiento es perpendicular al e"e del corte$%os te"idos que mas comunmente pueden producir este%os te"idos que mas comunmente pueden producir esteartefacto son*artefacto son*

    + %CR$+ %CR$+ flu"o 0enoso$+ flu"o 0enoso$

    + flu"o arterial$+ flu"o arterial$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    ++ 1m-genes fantasmas o 4&osting1m-genes fantasmas o 4&ostingSon r,plicas del te"ido o estructura en mo0imiento a loSon r,plicas del te"ido o estructura en mo0imiento a lolargo de la codificaci!n de fase$ Se produce porque ellargo de la codificaci!n de fase$ Se produce porque elmo0imiento ocurre entre pasos de la codificaci!n demo0imiento ocurre entre pasos de la codificaci!n defase .TR/$fase .TR/$

    g&osting

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    ++ Emorronamiento o lurringEmorronamiento o lurring

    Es una disminuci!n de la resoluci!n causada porEs una disminuci!n de la resoluci!n causada pormo0imiento y se manifiesta como un aumento difuso delmo0imiento y se manifiesta como un aumento difuso delruido de la imagen( produciendo una p,rdida de losruido de la imagen( produciendo una p,rdida de losordes y m-rgenes de los te"idos$ Sucede enordes y m-rgenes de los te"idos$ Sucede en

    mo0imientos aleatorios y aparece en el e"e demo0imientos aleatorios y aparece en el e"e decodificaci!n de fase$codificaci!n de fase$

    @n artefacto g&osting en codificaci!n de fase podr-@n artefacto g&osting en codificaci!n de fase podr-producir un artefacto lurring en codificaci!n deproducir un artefacto lurring en codificaci!n defrecuencia$frecuencia$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    @na posile soluci!n para elartefacto de lurring ser5a utili'armayor N de adq$

    A su 0e' podr5a resultar inefica'

    en la reducci!n del artefacto porel aumento del tiempo deadquisici!n$

    lurring

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

    ++ Reducci!n de intensidad de la seal de losReducci!n de intensidad de la seal de loste"idos en mo0imientote"idos en mo0imiento

    %a intensidad del artefacto fantasma es proporcional a%a intensidad del artefacto fantasma es proporcional ala intensidad de los te"idos en mo0imiento$la intensidad de los te"idos en mo0imiento$

    Me"ora de la calidad de imagen reducci!n deMe"ora de la calidad de imagen reducci!n de

    estructuras en mo0imiento$estructuras en mo0imiento$ E3iste m,todos tales como*E3iste m,todos tales como*

    + saturaci!n grasa .FATSAT/+ saturaci!n grasa .FATSAT/

    + andas de saturaci!n$+ andas de saturaci!n$

    + sincroni'aci!n$+ sincroni'aci!n$

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    Lilin Ignacio da SilvaLilin Ignacio da Silva

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    F1NF1N


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