X-Ray Fluorescence

Analysis

(Analisa XRF)

Analisis X-ray Fluoresensi Pendahuluan Prinsip Kerja Skema Cara Kerja Alat Preparasi Sampel Instrumen XRF Contoh spektra

Radiasi Elektromagnetik

1Hz - 1kHz

1kHz - 1014Hz

1014Hz - 1015Hz

1015Hz - 1021Hz

Extra-Low Frequency

(ELF)

Radio Microwave Infrared

Visible Light

X-Rays,

Gamma Rays

Low energy High energy

Pendahuluan

Fitur XRF

Prinsip Kerja

Peristiwa pada tabung sinar-X.

Prinsip Kerja XRFPada teknik XRF, dienggunakan sinar-X dari tabung

pembangkit sinar-X untuk mengeluarkan electron dari kulit bagian dalam untuk menghasilkan sinar-X baru dari sample yang di analisis.

Prinsip Kerja XRFUntuk setiap atom di dalam sample,

intensitas dari sinar-X karakteristik

tersebut sebanding dengan jumlah

(konsentrasi) atom di dalam sample.

Intensitas sinar–X karakteristik dari

setiap unsur, dibandingkan dengan

suatu standar yang diketahui

konsentrasinya, sehingga konsentrasi

unsur dalam sample bisa ditentukan.

S kema C ara Kerja Alat

Instrumen XRFInstrumen XRF terdiri

dari :Sumber cahayaO ptikDetektor

S yarat S ampel

Serbuk Ukuran serbuk < 4 00 mesh

Padatan Permukaan yang dilapisi akan meminimalisir efek

penghamburan Sampel harus datar untuk menghasilkan analisis

kuantitatif yang optimalCairan

Sampel harus segar ketika dianalisis dan analisis dilakukan secara cepat jika sampel mudah menguap

Sampel tidak boleh mengandung endapan

S umber C ahayaTabung Sinar X

• End W indow • Side W indow

Radioisotop

T abung sinar xEnd W indow

S ide W indowBe W indow

Silicone Insulation

Glass En v elope

Filament

Electron beam

Target (Ti, Ag,Rh, etc.)

Copper Anode

H V Lead

RadioisotopIsotope Fe-5 5 Cm-

244Cd-109 Am-

241Co-57

Energy (keV) 5.9 14.3, 18.3

22, 88 59.5 122

Elements (K-lines)

Al – V Ti-Br Fe-Mo Ru-Er Ba - U

Elements (L-lines)

Br-I I- Pb Yb-Pu None none

Optik

Source Detector

Filter

DetectorDetector

X-Ray X-Ray SourceSource

Source FilterSource Filter

C ontoh S pektra

C ontoh S pektra

D etektorSi(L i) P N DiodeSilicon Drift DetectorsProportional CountersScintillation Detectors

S i ( L i) D etektor W Indow

Si(Li) crystal

Dewarfilled withLN 2

Super-Cooled Cryostat

Cooling: LN2 or Peltier Window: Beryllium or PolymerCounts Rates: 3,000 – 50,000 cps Resolution: 120-170 eV at Mn K-alpha

FET

Pre-Amplifier

PIN D iode

Cooling: Thermoelectrically cooled (Peltier)

Window: BerylliumCount Rates: 3,000 – 20,000 cpsResolution: 170-240 eV at Mn k-alpha

Silicon Drift Detector

Packaging: Similar to PIN DetectorCooling: PeltierCount Rates; 10,000 – 300,000 cpsResolution: 140-180 eV at Mn K-alpha

Proportional Counter

Anode Filament

Fill Gases: Neon, Argon, Xenon, KryptonPressure: 0.5- 2 ATMWindows: Be or PolymerSealed or Gas Flow VersionsCount Rates EDX: 10,000-40,000 cps WDX: 1,000,000+Resolution: 500-1000+ eV

Window

Scintillation DetectorPMT (Photo-multiplier tube)

Sodium Iodide Disk Electronics

ConnectorWindow: Be or AlCount Rates: 10,000 to 1,000,000+ cpsResolution: >1000 eV