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Simulación del haz de electrones en un TEM como flujo de ... · El Microscopio Electrónico de...

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Simulación del haz de electrones en un TEM como flujo de partículas cargadas Simulation of the electron beam in a TEM as a charged particles flux Alberto Hernández-Valle 1 , Vanessa Valverde-Noguera 1 , Ignacio López-Gómez 1 , Bruno Chinè-Polito 2 , Ricardo Esquivel-Isern 2 , Juan Chaves-Noguera 31 Fecha de recepción: 9 de junio del 2014 Fecha de aprobación: 26 de setiembre del 2014 Hernández-Valle, A; Valverde-Noguera, V; López-Gómez, I; Chiné-Polito, B; Esquivel-Isern, R; Chaves-Noguera, J. Simulación del haz de electrones en un TEM como flujo de partículas cargadas. Tecnología en Marcha. Vol. 28, Nº 1, Enero-Marzo. Pág 59-70. 1 Estudiantes de Ingeniería en Materiales, Instituto Tecnológico de Costa Rica. Costa Rica. Correos electrónicos: [email protected]; [email protected]; [email protected]. 2 Profesores, Escuela de Ciencia e Ingeniería de los Materiales, Instituto Tec- nológico de Costa Rica. Costa Rica. Correo electrónico: [email protected]; [email protected]. 3 Profesor, Escuela de Ingeniería Electrónica, Instituto Tecnológico de Costa Rica. Costa Rica. Correo electrónico: [email protected]
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Simulacioacuten del haz de electrones en un TEM como flujo de partiacuteculas cargadas

Simulation of the electron beam in a TEM as a charged particles flux

Alberto Hernaacutendez-Valle1 Vanessa Valverde-Noguera1 Ignacio Loacutepez-Goacutemez1 Bruno Chinegrave-Polito2 Ricardo

Esquivel-Isern2 Juan Chaves-Noguera31

Fecha de recepcioacuten 9 de junio del 2014 Fecha de aprobacioacuten 26 de setiembre del 2014

Hernaacutendez-Valle A Valverde-Noguera V Loacutepez-Goacutemez I Chineacute-Polito B Esquivel-Isern R Chaves-Noguera J

Simulacioacuten del haz de electrones en un TEM como flujo de partiacuteculas cargadas Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Nordm 1

Enero-Marzo Paacuteg 59-70

1 Estudiantes de Ingenieriacutea en Materiales Instituto Tecnoloacutegico de Costa Rica Costa Rica Correos electroacutenicos 7albertohgmailcom vvalverde05gmailcom eignaciolggmailcom

2 Profesores Escuela de Ciencia e Ingenieriacutea de los Materiales Instituto Tec-noloacutegico de Costa Rica Costa Rica Correo electroacutenico bchinetecaccr resquiveltecaccr

3 Profesor Escuela de Ingenieriacutea Electroacutenica Instituto Tecnoloacutegico de Costa Rica Costa Rica Correo electroacutenico jschavesitcraccr

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Palabras claveLente condensador lente objetivo simulacioacuten haz de electrones piezas polares

ResumenSe simuloacute el comportamiento de un haz de electrones en un Microscopio Electroacutenico de Transmisioacuten (TEM) en funcioacuten del voltaje de aceleracioacuten la corriente de excitacioacuten de las lentes y la permeabilidad relativa de las piezas polares por medio del software COMSOL Multiphysics versioacuten 42a Los resultados mostraron una baja velocidad vertical en los electrones dispersos los cuales fueron filtrados por los diafragmas Ademaacutes los graacuteficos expusieron que la densidad del flujo magneacutetico aumentoacute con el incremento en la permeabilidad magneacutetica de las piezas polares Ademaacutes un aumento en la densidad del flujo magneacutetico incrementoacute el aacutengulo de los electrones divergentes y redujo su velocidad vertical Finalmente las observaciones demostraron que el nuacutemero de electrones que entran en el sistema no afecta el comportamiento general del haz ni la magnitud de la densidad del flujo magneacutetico

KeywordsCondenser lens objective lens simulation electron beam pole pieces

AbstractThe behavior of an electron beam in a TEM was simulated as a function of accelerating voltage excitation current of the lenses and relative permeability of the pole pieces by the software COMSOL Multiphysics version 42a The results showed a low vertical speed of stray electrons which were filtered by the diaphragms Moreover the plots displayed an increase in the magnetic flux density with the increase of the magnetic permeability of the pole pieces Furthermore the outcome indicated that a boost in the magnetic flux density increased the angle of divergent electrons and reduced their vertical speed Finally the observations illustrated that the number of electrons at the inlet does not affect the beam overall behavior nor the magnetic flux density magnitude

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IntroduccioacutenEn el mundo se invierten muchos recursos en investigacioacuten y desarrollo El Microscopio Electroacutenico de Transmisioacuten (TEM) constituye una de las mejores herramientas tecnoloacutegicas para la investigacioacuten En el Tecnoloacutegico de Costa Rica (TEC) se cuenta con uno de estos equipos Sin embargo calibrar el haz de electrones es un procedimiento tedioso que hace necesario contar con experiencia para obtener una buena imagen Por lo tanto es importante comprender mejor el comportamiento del haz de electrones en el momento que pasa a traveacutes de las lentes electromagneacuteticas Esta conducta se entiende mejor por medio de una simulacioacuten Consecuentemente se analizan los cambios en el comportamiento del haz debido a las variaciones de los paraacutemetros fiacutesico-geomeacutetricos del sistema

De acuerdo con la paacutegina electroacutenica del CERN las partiacuteculas involucradas en las colisiones estudiadas en este laboratorio normalmente viajan en liacutenea recta Sin embargo en presencia de un campo magneacutetico su trayectoria se curva Por lo tanto se colocan electroimanes alrededor de los detectores de partiacuteculas para generar campos magneacuteticos con los cuales se puede calcular el momento de una partiacutecula a partir de la curvatura de su trayectoria (una pista de su identidad) De manera similar ocurre en la columna de un TEM porque las trayectorias de los electrones se curvan en presencia del campo magneacutetico causado por los lentes (Williams y Carter 2009)

El TEM utilizado posee varias lentes magneacuteticas y varios diafragmas que en conjunto ajustan el haz para lograr la imagen deseada Sin embargo las lentes objetivo-condensador son las maacutes importantes (Wen-pin Wu Zhen Li-jiang y Li 2009) Estas son similares a una bobina o solenoide corto por los cuales fluye corriente eleacutectrica Generan un campo magneacutetico que pasa por el eje de su centro el cual provoca que los electrones se crucen y se acerquen al eje (Fultz y Howe 2008)

Seguacuten Fultz y Howe (2008) la lente condensadora se ubica sobre la muestra define el diaacutemetro del haz de electrones limita su corriente al eliminar electrones con aacutengulos elevados y enfoca el rayo en el espeacutecimen Por ejemplo si la corriente de la condensadora se incrementa el haz se enfoca muy por encima de la apertura y una gran parte de eacutel se pierde El diafragma de la condensadora tambieacuten elimina los electrones con aacutengulos elevados Ademaacutes protege la muestra de la radiacioacuten excesiva y limita la cantidad de rayos x generados por los electrones que chocan con partes de la columna del microscopio (Fultz y Howe 2008)

En su libro sobre el TEM Williams y Carter (2009) explican que la lente objetivo es otra lente muy importante para ajustar el haz de electrones Esta es la maacutes fuerte y se encuentra inmediatamente debajo o alrededor de la muestra Su importancia radica en que determina en uacuteltima instancia la interaccioacuten entre los electrones y la muestra El diafragma de este lente se encuentra inmediatamente arriba de la muestra Las aperturas deben tener alta precisioacuten en sus dimensiones y generalmente tienen un aacutengulo de inclinacioacuten en el espesor de su diaacutemetro interno para optimizar su funcionamiento y evitar la dispersioacuten de los electrones

Ademaacutes las lentes magneacuteticas poseen extensiones polares hechas de un material con elevada permeabilidad relativa (Williams y Carter 2009) La permeabilidad relativa es una medida de la capacidad que tiene un material de atraer y hacer pasar un campo magneacutetico a traveacutes de eacutel (Nave 2000) Es el resultado de dividir la permeabilidad magneacutetica del material entre la permeabilidad magneacutetica del vaciacuteo La permeabilidad elevada de las extensiones polares magneacuteticas comparada con la de los alrededores provoca que las liacuteneas de campo se concentren en el nuacutecleo de la lente y potencien la magnitud del campo que generan las lentes magneacuteticas En consecuencia la maximizacioacuten alcanza aproximadamente 200 veces el campo generado con solo un nuacutecleo de aire

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Meacutetodos

SimulacioacutenEl TEM analizado es el modelo JEOL 2100 alcanza un vaciacuteo del orden de 10-5 Pa Ademaacutes posee un elemento electromagneacutetico en la columna que atrae los iones a su superficie Por lo tanto si alguacuten ion permanece en el vaciacuteo este va a ser retirado de la regioacuten de flujo de electrones De esta manera se pueden despreciar las colisiones entre partiacuteculas ni siquiera se requiere aproximar estas colisiones utilizando un gas de fondo pues el flujo de electrones praacutecticamente no se expone a colisiones con otras partiacuteculas

La simulacioacuten se realiza a partir del modelo resuelto disponible en la biblioteca virtual del software COMSOL Multiphysics 42a llamado Magnetic lens de la interfaz Charged particle tracing Por lo tanto el fundamento teoacuterico de la simulacioacuten es similar al del modelo resuelto Consecuentemente se verificoacute y complementoacute esta base teoacuterica (COMSOL 2011b)

Se incluye una geometriacutea escalada a tres veces la del modelo base para que el dominio exponga las dimensiones adecuadas con el objetivo de poder apreciar mejor los resultados Se mantiene la proporcioacuten de diaacutemetro sobre longitud de manera que los elementos utilizados en el mallado sean semejantes en todas las direcciones Esto permite utilizar el mismo tipo de mallado que el original Asiacute los errores de las aproximaciones en todas las direcciones son similares Ademaacutes el mallado se ajusta para que la calidad promedio del elemento sea mayor que 07 y que la calidad miacutenima presente el maacuteximo valor para asegurar caacutelculos maacutes acertados Ademaacutes se utiliza el mallado predeterminado free tetrahedral y free triangular pues se ajusta mejor a la geometriacutea Finalmente la solucioacuten calculada converge con este tipo de mallado por lo tanto se considera que es de buena calidad

Ademaacutes los caacutelculos de la simulacioacuten se resuelven por medio del meacutetodo de elementos finitos Primero se calcula la densidad del flujo magneacutetico por medio de la interfaz magnetic fields en un estudio estacionario Con dicho caacutelculo se encuentra el comportamiento del flujo de electrones por medio de la interfaz charged particle tracing en un anaacutelisis transitorio En consecuencia en el tiempo cero no han salido las partiacuteculas pero un tiempo inmediatamente despueacutes son liberadas Asiacute se brindan diversas soluciones en intervalos de 20x10-12s desde 0 s hasta alcanzar el tiempo final 500x10-12 s

Las lentes magneacuteticas utilizadas en los microscopios de transmisioacuten electroacutenica son solenoides cortos (Fultz y Howe 2008) A pesar de que la lente magneacutetica utilizada en el modelo no es un solenoide se asume que es la lente adecuada porque cumple la funcioacuten de variar la trayectoria de los electrones debido a un campo magneacutetico que genera en su eje central Entonces el sistema en su totalidad cuenta con dos lentes magneacuteticas (objetivo y condensadora) y cada una posee un par de piezas polares

Al escalar las magnitudes del modelo se tiene como prioridad la claridad de los resultados con el objetivo de que el lector aprecie el comportamiento del haz Los intervalos de tiempo del modelo no se toman en cuenta para el escalado de sus magnitudes debido a que las partiacuteculas tienen maacutes velocidad a causa del mayor voltaje Este mayor voltaje provoca que las partiacuteculas tengan mayor velocidad y por lo tanto recorran maacutes distancia en menor tiempo Asiacute a pesar de la mayor dimensioacuten del dominio las partiacuteculas lo recorren en un tiempo similar al original

En la simulacioacuten se establece una entrada de 104 electrones que se liberan en un solo tiempo desde el punto inferior de frontera (figura 1) Ademaacutes se establece una configuracioacuten estaacutendar con respecto a la cual se comparan los resultados al variar ciertos paraacutemetros El resto de los paraacutemetros fiacutesico-geomeacutetricos del sistema se mantienen constantes

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Figura 1 Geometriacutea del modelo (a) piezas polares y lente objetivo (b) diafragma de lente objetivo (c) diafragma de lente condensadora y (d) piezas polares y lente condensadora

Tabla 1 Paraacutemetros de la configuracioacuten estaacutendar y rangos de variacioacuten

Paraacutemetro Magnitud estaacutendar Rango de variacioacuten

Voltaje de aceleracioacuten 3 kV 1 a 9 kV

Corriente de excitacioacuten 045 A 015 a 135 A

Permeabilidad relativa 1 1 a 9

El voltaje de aceleracioacuten representa la energiacutea de los electrones a la entrada del sistema La velocidad de los electrones (velec) es funcioacuten del voltaje de aceleracioacuten (vacel) de acuerdo con la expresioacuten

carga

(Ecuacioacuten 1)

La corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (Ic) determina la densidad de corriente (Jc) presente en las lentes (ecuacioacuten 8) Luego Jc define la densidad de corriente externa generada (Je) Finalmente B se relaciona con Je y con la permeabilidad relativa de los diafragmas (micror) por medio de la ecuacioacuten 7 Se comprende que afecta la trayectoria de los electrones (Fultz y Howe 2008) En consecuencia la trayectoria de los electrones se modifica con Ic y micror En siacutentesis se considera que los paraacutemetros fiacutesicos que afectan maacutes al comportamiento del haz son Vacel Ic y micror Ademaacutes para simplificar el anaacutelisis se establece que la corriente de excitacioacuten y la geometriacutea de las lentes condensadora y objetivo son las mismas de esta manera ambas poseen la misma densidad de corriente

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Ecuaciones generales que gobiernan el sistema

El movimiento de partiacuteculas cargadas en un campo electromagneacutetico se describe a partir del Lagrangiano (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 2)

Donde v es la velocidad de la partiacutecula [ms] q es la carga de la partiacutecula (q= Ze donde Z es el nuacutemero de carga y e = 1602176x10-19 C es la carga elemental) A es el vector de potencial magneacutetico [Vsm] y V es el escalar de potencial eleacutectrico [JC]

Al transformar el Lagrangiano (ecuacioacuten 1) para bajas velocidades despueacutes restar la energiacutea sobrante y finalmente introducir el teacutermino de la densidad del campo magneacutetico se obtiene la ecuacioacuten del movimiento de una partiacutecula cargada en un campo magneacutetico Esta constituye la ecuacioacuten de la fuerza de Lorentz (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 3)

En esta ecuacioacuten B es la densidad del flujo magneacutetico [T]

Es importante sentildealar que se desprecia el efecto del campo eleacutectrico Por lo tanto no se encuentra el teacutermino ldquo-qErdquo en el lado derecho de la ecuacioacuten De esta manera la ecuacioacuten determina el acoplamiento entre los campos magneacuteticos y la trayectoria de las partiacuteculas cargadas

De acuerdo con COMSOL (2011a) los problemas de electromagnetismo a nivel macroscoacutepico se resuelven por medio de las ecuaciones de Maxwell sujetas a condiciones de frontera a partir de las cuales se obtiene un sistema cerrado Ademaacutes se deben incluir las relaciones constitutivas que describen las propiedades macroscoacutepicas del medio Asiacute se tienen las ecuaciones derivadas de las de Maxwell

(Ecuacioacuten 4)

(Ecuacioacuten 5)

(Ecuacioacuten 6)

donde E es la intensidad de campo eleacutectrico [Vm] D es la densidad de flujo eleacutectrico [Cm2] J es la densidad de corriente [A] ε0 es la permitividad del vaciacuteo μ0 = 4π 10-7 [Hm] es la permeabilidad de vaciacuteo M= XmH es el vector de magnetizacioacuten se interpreta como la densidad volumeacutetrica de momentos dipolares magneacuteticos describe como un material es magnetizado en presencia de un campo magneacutetico H [T] P es el vector de polarizacioacuten eleacutectrica describe como un material es polarizado en presencia de un campo eleacutectrico E Se interpreta como la densidad volumeacutetrica de un momento dipolar eleacutectrico

Dentro de las ecuaciones de Maxwell se encuentra la ley de Ampegravere para estado estacionario A partir de esta ley con los campos magneacuteticos constantes en el tiempo se obtiene la siguiente ecuacioacuten

micro micro (Ecuacioacuten 7)

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Eacutesta relaciona la densidad de corriente externa generada Je con la intensidad de campo magneacutetico H= (μ0

-1μr -1B) Ademaacutes se determina a partir de la densidad de corriente (Jc) en la

bobina

(Ecuacioacuten 8)donde es el nuacutemero de arrollamientos de la bobina e es la corriente de excitacioacuten

Resultados y discusioacutenLos graacuteficos presentan la velocidad vertical de los electrones (ms) Ademaacutes la velocidad maacutexima y miacutenima en la escala corresponde a la velocidad maacutexima y miacutenima de los electrones en el haz Los electrones se mueven de abajo hacia arriba Finalmente la discusioacuten se enfoca en el comportamiento del aacutengulo (θ) que forma el haz de electrones con el eje vertical que atraviesa su centro Esto se debe a que brinda informacioacuten del grado de desviacioacuten de los electrones y asiacute de su comportamiento

Figura 2 Configuracioacuten estaacutendar

En la figura 2 la velocidad maacutexima es de 02485x107 ms y la miacutenima de 09658 x107 ms Ademaacutes se aprecia un color claro en el periacutemetro del haz y conforme se acerca a su centro se torna maacutes oscuro Esto indica que los electrones con mayor aacutengulo (θ) con respecto al eje del haz presentan una menor velocidad vertical comparada con la velocidad de los electrones que viajan por el centro del haz

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Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

32

315

31

305

3

295

29

285

280 02 04 06 08 1 12 14 16

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

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Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

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El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

3

295

29

285

28

2750 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

3

28

26

24

220 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

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Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

6

5

4

3

2

1

00 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

BibliografiacuteaCentral Microscopy Research Facility University of Iowa (nf) Transmission Electron Microscopy

CERN (nf) About CERN-Accelerators Experiments Physics Obtenido de httphomewebcernchaboutexperi-ments

COMSOL (2011a) Introduction to ACDC Module COMSOL Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload120723IntroductionToACDCModulepdf

COMSOL (2011b) Magnetic lens Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload184181modelsacdcmagnetic_lenspdf

COMSOL (2011c) Particle Tracing and ACDC Module Userrsquos Guide Versioacuten October 2011 COMSOL 42a

Fultz B amp Howe J (2008) Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 3 ed Springer

Goldstein J Newbury D Echlin P Joy D Lyman C Lifshin E Sawyer L amp Michael J (2007) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 3 ed New York Kluwer AcademicPlenum Publishers

Rose H amp Wan W (2005) Aberration Correction in Electron Microscopy Proceedings of 2005 Particle Accelerator Conference Knoxville Tennessee IEEE 05CH6723C (pp 44-48) Obtenido de httpaccelconfwebcernchAccelConfP05PAPERSWOAC001PDF

Nave R (2000) Ferromagnetism Departamento de Fiacutesica y Astronomiacutea de Georgia State University Obtenido de httphyperphysicsphy-astrgsueduhbasesolidsferrohtmlc5

Wen-ping L Jian W Zhen Z Li-jiang G amp Li H (2009) Practical Integrated Design of a Condenser-objective Lens for Transmission Electron Microscope Journal of Physics Conference Series 188 (2009) 012045 Obtenido de httpiopscienceioporg1742-65961881012045pdf1742-6596_188_1_012045pdf

Williams D B amp Carter C B (2009) Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science 2 ed New York Springer Science+Business Media LLC

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Palabras claveLente condensador lente objetivo simulacioacuten haz de electrones piezas polares

ResumenSe simuloacute el comportamiento de un haz de electrones en un Microscopio Electroacutenico de Transmisioacuten (TEM) en funcioacuten del voltaje de aceleracioacuten la corriente de excitacioacuten de las lentes y la permeabilidad relativa de las piezas polares por medio del software COMSOL Multiphysics versioacuten 42a Los resultados mostraron una baja velocidad vertical en los electrones dispersos los cuales fueron filtrados por los diafragmas Ademaacutes los graacuteficos expusieron que la densidad del flujo magneacutetico aumentoacute con el incremento en la permeabilidad magneacutetica de las piezas polares Ademaacutes un aumento en la densidad del flujo magneacutetico incrementoacute el aacutengulo de los electrones divergentes y redujo su velocidad vertical Finalmente las observaciones demostraron que el nuacutemero de electrones que entran en el sistema no afecta el comportamiento general del haz ni la magnitud de la densidad del flujo magneacutetico

KeywordsCondenser lens objective lens simulation electron beam pole pieces

AbstractThe behavior of an electron beam in a TEM was simulated as a function of accelerating voltage excitation current of the lenses and relative permeability of the pole pieces by the software COMSOL Multiphysics version 42a The results showed a low vertical speed of stray electrons which were filtered by the diaphragms Moreover the plots displayed an increase in the magnetic flux density with the increase of the magnetic permeability of the pole pieces Furthermore the outcome indicated that a boost in the magnetic flux density increased the angle of divergent electrons and reduced their vertical speed Finally the observations illustrated that the number of electrons at the inlet does not affect the beam overall behavior nor the magnetic flux density magnitude

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IntroduccioacutenEn el mundo se invierten muchos recursos en investigacioacuten y desarrollo El Microscopio Electroacutenico de Transmisioacuten (TEM) constituye una de las mejores herramientas tecnoloacutegicas para la investigacioacuten En el Tecnoloacutegico de Costa Rica (TEC) se cuenta con uno de estos equipos Sin embargo calibrar el haz de electrones es un procedimiento tedioso que hace necesario contar con experiencia para obtener una buena imagen Por lo tanto es importante comprender mejor el comportamiento del haz de electrones en el momento que pasa a traveacutes de las lentes electromagneacuteticas Esta conducta se entiende mejor por medio de una simulacioacuten Consecuentemente se analizan los cambios en el comportamiento del haz debido a las variaciones de los paraacutemetros fiacutesico-geomeacutetricos del sistema

De acuerdo con la paacutegina electroacutenica del CERN las partiacuteculas involucradas en las colisiones estudiadas en este laboratorio normalmente viajan en liacutenea recta Sin embargo en presencia de un campo magneacutetico su trayectoria se curva Por lo tanto se colocan electroimanes alrededor de los detectores de partiacuteculas para generar campos magneacuteticos con los cuales se puede calcular el momento de una partiacutecula a partir de la curvatura de su trayectoria (una pista de su identidad) De manera similar ocurre en la columna de un TEM porque las trayectorias de los electrones se curvan en presencia del campo magneacutetico causado por los lentes (Williams y Carter 2009)

El TEM utilizado posee varias lentes magneacuteticas y varios diafragmas que en conjunto ajustan el haz para lograr la imagen deseada Sin embargo las lentes objetivo-condensador son las maacutes importantes (Wen-pin Wu Zhen Li-jiang y Li 2009) Estas son similares a una bobina o solenoide corto por los cuales fluye corriente eleacutectrica Generan un campo magneacutetico que pasa por el eje de su centro el cual provoca que los electrones se crucen y se acerquen al eje (Fultz y Howe 2008)

Seguacuten Fultz y Howe (2008) la lente condensadora se ubica sobre la muestra define el diaacutemetro del haz de electrones limita su corriente al eliminar electrones con aacutengulos elevados y enfoca el rayo en el espeacutecimen Por ejemplo si la corriente de la condensadora se incrementa el haz se enfoca muy por encima de la apertura y una gran parte de eacutel se pierde El diafragma de la condensadora tambieacuten elimina los electrones con aacutengulos elevados Ademaacutes protege la muestra de la radiacioacuten excesiva y limita la cantidad de rayos x generados por los electrones que chocan con partes de la columna del microscopio (Fultz y Howe 2008)

En su libro sobre el TEM Williams y Carter (2009) explican que la lente objetivo es otra lente muy importante para ajustar el haz de electrones Esta es la maacutes fuerte y se encuentra inmediatamente debajo o alrededor de la muestra Su importancia radica en que determina en uacuteltima instancia la interaccioacuten entre los electrones y la muestra El diafragma de este lente se encuentra inmediatamente arriba de la muestra Las aperturas deben tener alta precisioacuten en sus dimensiones y generalmente tienen un aacutengulo de inclinacioacuten en el espesor de su diaacutemetro interno para optimizar su funcionamiento y evitar la dispersioacuten de los electrones

Ademaacutes las lentes magneacuteticas poseen extensiones polares hechas de un material con elevada permeabilidad relativa (Williams y Carter 2009) La permeabilidad relativa es una medida de la capacidad que tiene un material de atraer y hacer pasar un campo magneacutetico a traveacutes de eacutel (Nave 2000) Es el resultado de dividir la permeabilidad magneacutetica del material entre la permeabilidad magneacutetica del vaciacuteo La permeabilidad elevada de las extensiones polares magneacuteticas comparada con la de los alrededores provoca que las liacuteneas de campo se concentren en el nuacutecleo de la lente y potencien la magnitud del campo que generan las lentes magneacuteticas En consecuencia la maximizacioacuten alcanza aproximadamente 200 veces el campo generado con solo un nuacutecleo de aire

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Meacutetodos

SimulacioacutenEl TEM analizado es el modelo JEOL 2100 alcanza un vaciacuteo del orden de 10-5 Pa Ademaacutes posee un elemento electromagneacutetico en la columna que atrae los iones a su superficie Por lo tanto si alguacuten ion permanece en el vaciacuteo este va a ser retirado de la regioacuten de flujo de electrones De esta manera se pueden despreciar las colisiones entre partiacuteculas ni siquiera se requiere aproximar estas colisiones utilizando un gas de fondo pues el flujo de electrones praacutecticamente no se expone a colisiones con otras partiacuteculas

La simulacioacuten se realiza a partir del modelo resuelto disponible en la biblioteca virtual del software COMSOL Multiphysics 42a llamado Magnetic lens de la interfaz Charged particle tracing Por lo tanto el fundamento teoacuterico de la simulacioacuten es similar al del modelo resuelto Consecuentemente se verificoacute y complementoacute esta base teoacuterica (COMSOL 2011b)

Se incluye una geometriacutea escalada a tres veces la del modelo base para que el dominio exponga las dimensiones adecuadas con el objetivo de poder apreciar mejor los resultados Se mantiene la proporcioacuten de diaacutemetro sobre longitud de manera que los elementos utilizados en el mallado sean semejantes en todas las direcciones Esto permite utilizar el mismo tipo de mallado que el original Asiacute los errores de las aproximaciones en todas las direcciones son similares Ademaacutes el mallado se ajusta para que la calidad promedio del elemento sea mayor que 07 y que la calidad miacutenima presente el maacuteximo valor para asegurar caacutelculos maacutes acertados Ademaacutes se utiliza el mallado predeterminado free tetrahedral y free triangular pues se ajusta mejor a la geometriacutea Finalmente la solucioacuten calculada converge con este tipo de mallado por lo tanto se considera que es de buena calidad

Ademaacutes los caacutelculos de la simulacioacuten se resuelven por medio del meacutetodo de elementos finitos Primero se calcula la densidad del flujo magneacutetico por medio de la interfaz magnetic fields en un estudio estacionario Con dicho caacutelculo se encuentra el comportamiento del flujo de electrones por medio de la interfaz charged particle tracing en un anaacutelisis transitorio En consecuencia en el tiempo cero no han salido las partiacuteculas pero un tiempo inmediatamente despueacutes son liberadas Asiacute se brindan diversas soluciones en intervalos de 20x10-12s desde 0 s hasta alcanzar el tiempo final 500x10-12 s

Las lentes magneacuteticas utilizadas en los microscopios de transmisioacuten electroacutenica son solenoides cortos (Fultz y Howe 2008) A pesar de que la lente magneacutetica utilizada en el modelo no es un solenoide se asume que es la lente adecuada porque cumple la funcioacuten de variar la trayectoria de los electrones debido a un campo magneacutetico que genera en su eje central Entonces el sistema en su totalidad cuenta con dos lentes magneacuteticas (objetivo y condensadora) y cada una posee un par de piezas polares

Al escalar las magnitudes del modelo se tiene como prioridad la claridad de los resultados con el objetivo de que el lector aprecie el comportamiento del haz Los intervalos de tiempo del modelo no se toman en cuenta para el escalado de sus magnitudes debido a que las partiacuteculas tienen maacutes velocidad a causa del mayor voltaje Este mayor voltaje provoca que las partiacuteculas tengan mayor velocidad y por lo tanto recorran maacutes distancia en menor tiempo Asiacute a pesar de la mayor dimensioacuten del dominio las partiacuteculas lo recorren en un tiempo similar al original

En la simulacioacuten se establece una entrada de 104 electrones que se liberan en un solo tiempo desde el punto inferior de frontera (figura 1) Ademaacutes se establece una configuracioacuten estaacutendar con respecto a la cual se comparan los resultados al variar ciertos paraacutemetros El resto de los paraacutemetros fiacutesico-geomeacutetricos del sistema se mantienen constantes

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Figura 1 Geometriacutea del modelo (a) piezas polares y lente objetivo (b) diafragma de lente objetivo (c) diafragma de lente condensadora y (d) piezas polares y lente condensadora

Tabla 1 Paraacutemetros de la configuracioacuten estaacutendar y rangos de variacioacuten

Paraacutemetro Magnitud estaacutendar Rango de variacioacuten

Voltaje de aceleracioacuten 3 kV 1 a 9 kV

Corriente de excitacioacuten 045 A 015 a 135 A

Permeabilidad relativa 1 1 a 9

El voltaje de aceleracioacuten representa la energiacutea de los electrones a la entrada del sistema La velocidad de los electrones (velec) es funcioacuten del voltaje de aceleracioacuten (vacel) de acuerdo con la expresioacuten

carga

(Ecuacioacuten 1)

La corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (Ic) determina la densidad de corriente (Jc) presente en las lentes (ecuacioacuten 8) Luego Jc define la densidad de corriente externa generada (Je) Finalmente B se relaciona con Je y con la permeabilidad relativa de los diafragmas (micror) por medio de la ecuacioacuten 7 Se comprende que afecta la trayectoria de los electrones (Fultz y Howe 2008) En consecuencia la trayectoria de los electrones se modifica con Ic y micror En siacutentesis se considera que los paraacutemetros fiacutesicos que afectan maacutes al comportamiento del haz son Vacel Ic y micror Ademaacutes para simplificar el anaacutelisis se establece que la corriente de excitacioacuten y la geometriacutea de las lentes condensadora y objetivo son las mismas de esta manera ambas poseen la misma densidad de corriente

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Ecuaciones generales que gobiernan el sistema

El movimiento de partiacuteculas cargadas en un campo electromagneacutetico se describe a partir del Lagrangiano (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 2)

Donde v es la velocidad de la partiacutecula [ms] q es la carga de la partiacutecula (q= Ze donde Z es el nuacutemero de carga y e = 1602176x10-19 C es la carga elemental) A es el vector de potencial magneacutetico [Vsm] y V es el escalar de potencial eleacutectrico [JC]

Al transformar el Lagrangiano (ecuacioacuten 1) para bajas velocidades despueacutes restar la energiacutea sobrante y finalmente introducir el teacutermino de la densidad del campo magneacutetico se obtiene la ecuacioacuten del movimiento de una partiacutecula cargada en un campo magneacutetico Esta constituye la ecuacioacuten de la fuerza de Lorentz (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 3)

En esta ecuacioacuten B es la densidad del flujo magneacutetico [T]

Es importante sentildealar que se desprecia el efecto del campo eleacutectrico Por lo tanto no se encuentra el teacutermino ldquo-qErdquo en el lado derecho de la ecuacioacuten De esta manera la ecuacioacuten determina el acoplamiento entre los campos magneacuteticos y la trayectoria de las partiacuteculas cargadas

De acuerdo con COMSOL (2011a) los problemas de electromagnetismo a nivel macroscoacutepico se resuelven por medio de las ecuaciones de Maxwell sujetas a condiciones de frontera a partir de las cuales se obtiene un sistema cerrado Ademaacutes se deben incluir las relaciones constitutivas que describen las propiedades macroscoacutepicas del medio Asiacute se tienen las ecuaciones derivadas de las de Maxwell

(Ecuacioacuten 4)

(Ecuacioacuten 5)

(Ecuacioacuten 6)

donde E es la intensidad de campo eleacutectrico [Vm] D es la densidad de flujo eleacutectrico [Cm2] J es la densidad de corriente [A] ε0 es la permitividad del vaciacuteo μ0 = 4π 10-7 [Hm] es la permeabilidad de vaciacuteo M= XmH es el vector de magnetizacioacuten se interpreta como la densidad volumeacutetrica de momentos dipolares magneacuteticos describe como un material es magnetizado en presencia de un campo magneacutetico H [T] P es el vector de polarizacioacuten eleacutectrica describe como un material es polarizado en presencia de un campo eleacutectrico E Se interpreta como la densidad volumeacutetrica de un momento dipolar eleacutectrico

Dentro de las ecuaciones de Maxwell se encuentra la ley de Ampegravere para estado estacionario A partir de esta ley con los campos magneacuteticos constantes en el tiempo se obtiene la siguiente ecuacioacuten

micro micro (Ecuacioacuten 7)

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Eacutesta relaciona la densidad de corriente externa generada Je con la intensidad de campo magneacutetico H= (μ0

-1μr -1B) Ademaacutes se determina a partir de la densidad de corriente (Jc) en la

bobina

(Ecuacioacuten 8)donde es el nuacutemero de arrollamientos de la bobina e es la corriente de excitacioacuten

Resultados y discusioacutenLos graacuteficos presentan la velocidad vertical de los electrones (ms) Ademaacutes la velocidad maacutexima y miacutenima en la escala corresponde a la velocidad maacutexima y miacutenima de los electrones en el haz Los electrones se mueven de abajo hacia arriba Finalmente la discusioacuten se enfoca en el comportamiento del aacutengulo (θ) que forma el haz de electrones con el eje vertical que atraviesa su centro Esto se debe a que brinda informacioacuten del grado de desviacioacuten de los electrones y asiacute de su comportamiento

Figura 2 Configuracioacuten estaacutendar

En la figura 2 la velocidad maacutexima es de 02485x107 ms y la miacutenima de 09658 x107 ms Ademaacutes se aprecia un color claro en el periacutemetro del haz y conforme se acerca a su centro se torna maacutes oscuro Esto indica que los electrones con mayor aacutengulo (θ) con respecto al eje del haz presentan una menor velocidad vertical comparada con la velocidad de los electrones que viajan por el centro del haz

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Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

32

315

31

305

3

295

29

285

280 02 04 06 08 1 12 14 16

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

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Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

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El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

3

295

29

285

28

2750 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

3

28

26

24

220 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 69

Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

6

5

4

3

2

1

00 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

BibliografiacuteaCentral Microscopy Research Facility University of Iowa (nf) Transmission Electron Microscopy

CERN (nf) About CERN-Accelerators Experiments Physics Obtenido de httphomewebcernchaboutexperi-ments

COMSOL (2011a) Introduction to ACDC Module COMSOL Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload120723IntroductionToACDCModulepdf

COMSOL (2011b) Magnetic lens Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload184181modelsacdcmagnetic_lenspdf

COMSOL (2011c) Particle Tracing and ACDC Module Userrsquos Guide Versioacuten October 2011 COMSOL 42a

Fultz B amp Howe J (2008) Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 3 ed Springer

Goldstein J Newbury D Echlin P Joy D Lyman C Lifshin E Sawyer L amp Michael J (2007) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 3 ed New York Kluwer AcademicPlenum Publishers

Rose H amp Wan W (2005) Aberration Correction in Electron Microscopy Proceedings of 2005 Particle Accelerator Conference Knoxville Tennessee IEEE 05CH6723C (pp 44-48) Obtenido de httpaccelconfwebcernchAccelConfP05PAPERSWOAC001PDF

Nave R (2000) Ferromagnetism Departamento de Fiacutesica y Astronomiacutea de Georgia State University Obtenido de httphyperphysicsphy-astrgsueduhbasesolidsferrohtmlc5

Wen-ping L Jian W Zhen Z Li-jiang G amp Li H (2009) Practical Integrated Design of a Condenser-objective Lens for Transmission Electron Microscope Journal of Physics Conference Series 188 (2009) 012045 Obtenido de httpiopscienceioporg1742-65961881012045pdf1742-6596_188_1_012045pdf

Williams D B amp Carter C B (2009) Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science 2 ed New York Springer Science+Business Media LLC

Page 3: Simulación del haz de electrones en un TEM como flujo de ... · El Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) constituye una de las mejores herramientas tecnológicas para la

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IntroduccioacutenEn el mundo se invierten muchos recursos en investigacioacuten y desarrollo El Microscopio Electroacutenico de Transmisioacuten (TEM) constituye una de las mejores herramientas tecnoloacutegicas para la investigacioacuten En el Tecnoloacutegico de Costa Rica (TEC) se cuenta con uno de estos equipos Sin embargo calibrar el haz de electrones es un procedimiento tedioso que hace necesario contar con experiencia para obtener una buena imagen Por lo tanto es importante comprender mejor el comportamiento del haz de electrones en el momento que pasa a traveacutes de las lentes electromagneacuteticas Esta conducta se entiende mejor por medio de una simulacioacuten Consecuentemente se analizan los cambios en el comportamiento del haz debido a las variaciones de los paraacutemetros fiacutesico-geomeacutetricos del sistema

De acuerdo con la paacutegina electroacutenica del CERN las partiacuteculas involucradas en las colisiones estudiadas en este laboratorio normalmente viajan en liacutenea recta Sin embargo en presencia de un campo magneacutetico su trayectoria se curva Por lo tanto se colocan electroimanes alrededor de los detectores de partiacuteculas para generar campos magneacuteticos con los cuales se puede calcular el momento de una partiacutecula a partir de la curvatura de su trayectoria (una pista de su identidad) De manera similar ocurre en la columna de un TEM porque las trayectorias de los electrones se curvan en presencia del campo magneacutetico causado por los lentes (Williams y Carter 2009)

El TEM utilizado posee varias lentes magneacuteticas y varios diafragmas que en conjunto ajustan el haz para lograr la imagen deseada Sin embargo las lentes objetivo-condensador son las maacutes importantes (Wen-pin Wu Zhen Li-jiang y Li 2009) Estas son similares a una bobina o solenoide corto por los cuales fluye corriente eleacutectrica Generan un campo magneacutetico que pasa por el eje de su centro el cual provoca que los electrones se crucen y se acerquen al eje (Fultz y Howe 2008)

Seguacuten Fultz y Howe (2008) la lente condensadora se ubica sobre la muestra define el diaacutemetro del haz de electrones limita su corriente al eliminar electrones con aacutengulos elevados y enfoca el rayo en el espeacutecimen Por ejemplo si la corriente de la condensadora se incrementa el haz se enfoca muy por encima de la apertura y una gran parte de eacutel se pierde El diafragma de la condensadora tambieacuten elimina los electrones con aacutengulos elevados Ademaacutes protege la muestra de la radiacioacuten excesiva y limita la cantidad de rayos x generados por los electrones que chocan con partes de la columna del microscopio (Fultz y Howe 2008)

En su libro sobre el TEM Williams y Carter (2009) explican que la lente objetivo es otra lente muy importante para ajustar el haz de electrones Esta es la maacutes fuerte y se encuentra inmediatamente debajo o alrededor de la muestra Su importancia radica en que determina en uacuteltima instancia la interaccioacuten entre los electrones y la muestra El diafragma de este lente se encuentra inmediatamente arriba de la muestra Las aperturas deben tener alta precisioacuten en sus dimensiones y generalmente tienen un aacutengulo de inclinacioacuten en el espesor de su diaacutemetro interno para optimizar su funcionamiento y evitar la dispersioacuten de los electrones

Ademaacutes las lentes magneacuteticas poseen extensiones polares hechas de un material con elevada permeabilidad relativa (Williams y Carter 2009) La permeabilidad relativa es una medida de la capacidad que tiene un material de atraer y hacer pasar un campo magneacutetico a traveacutes de eacutel (Nave 2000) Es el resultado de dividir la permeabilidad magneacutetica del material entre la permeabilidad magneacutetica del vaciacuteo La permeabilidad elevada de las extensiones polares magneacuteticas comparada con la de los alrededores provoca que las liacuteneas de campo se concentren en el nuacutecleo de la lente y potencien la magnitud del campo que generan las lentes magneacuteticas En consecuencia la maximizacioacuten alcanza aproximadamente 200 veces el campo generado con solo un nuacutecleo de aire

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Meacutetodos

SimulacioacutenEl TEM analizado es el modelo JEOL 2100 alcanza un vaciacuteo del orden de 10-5 Pa Ademaacutes posee un elemento electromagneacutetico en la columna que atrae los iones a su superficie Por lo tanto si alguacuten ion permanece en el vaciacuteo este va a ser retirado de la regioacuten de flujo de electrones De esta manera se pueden despreciar las colisiones entre partiacuteculas ni siquiera se requiere aproximar estas colisiones utilizando un gas de fondo pues el flujo de electrones praacutecticamente no se expone a colisiones con otras partiacuteculas

La simulacioacuten se realiza a partir del modelo resuelto disponible en la biblioteca virtual del software COMSOL Multiphysics 42a llamado Magnetic lens de la interfaz Charged particle tracing Por lo tanto el fundamento teoacuterico de la simulacioacuten es similar al del modelo resuelto Consecuentemente se verificoacute y complementoacute esta base teoacuterica (COMSOL 2011b)

Se incluye una geometriacutea escalada a tres veces la del modelo base para que el dominio exponga las dimensiones adecuadas con el objetivo de poder apreciar mejor los resultados Se mantiene la proporcioacuten de diaacutemetro sobre longitud de manera que los elementos utilizados en el mallado sean semejantes en todas las direcciones Esto permite utilizar el mismo tipo de mallado que el original Asiacute los errores de las aproximaciones en todas las direcciones son similares Ademaacutes el mallado se ajusta para que la calidad promedio del elemento sea mayor que 07 y que la calidad miacutenima presente el maacuteximo valor para asegurar caacutelculos maacutes acertados Ademaacutes se utiliza el mallado predeterminado free tetrahedral y free triangular pues se ajusta mejor a la geometriacutea Finalmente la solucioacuten calculada converge con este tipo de mallado por lo tanto se considera que es de buena calidad

Ademaacutes los caacutelculos de la simulacioacuten se resuelven por medio del meacutetodo de elementos finitos Primero se calcula la densidad del flujo magneacutetico por medio de la interfaz magnetic fields en un estudio estacionario Con dicho caacutelculo se encuentra el comportamiento del flujo de electrones por medio de la interfaz charged particle tracing en un anaacutelisis transitorio En consecuencia en el tiempo cero no han salido las partiacuteculas pero un tiempo inmediatamente despueacutes son liberadas Asiacute se brindan diversas soluciones en intervalos de 20x10-12s desde 0 s hasta alcanzar el tiempo final 500x10-12 s

Las lentes magneacuteticas utilizadas en los microscopios de transmisioacuten electroacutenica son solenoides cortos (Fultz y Howe 2008) A pesar de que la lente magneacutetica utilizada en el modelo no es un solenoide se asume que es la lente adecuada porque cumple la funcioacuten de variar la trayectoria de los electrones debido a un campo magneacutetico que genera en su eje central Entonces el sistema en su totalidad cuenta con dos lentes magneacuteticas (objetivo y condensadora) y cada una posee un par de piezas polares

Al escalar las magnitudes del modelo se tiene como prioridad la claridad de los resultados con el objetivo de que el lector aprecie el comportamiento del haz Los intervalos de tiempo del modelo no se toman en cuenta para el escalado de sus magnitudes debido a que las partiacuteculas tienen maacutes velocidad a causa del mayor voltaje Este mayor voltaje provoca que las partiacuteculas tengan mayor velocidad y por lo tanto recorran maacutes distancia en menor tiempo Asiacute a pesar de la mayor dimensioacuten del dominio las partiacuteculas lo recorren en un tiempo similar al original

En la simulacioacuten se establece una entrada de 104 electrones que se liberan en un solo tiempo desde el punto inferior de frontera (figura 1) Ademaacutes se establece una configuracioacuten estaacutendar con respecto a la cual se comparan los resultados al variar ciertos paraacutemetros El resto de los paraacutemetros fiacutesico-geomeacutetricos del sistema se mantienen constantes

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Figura 1 Geometriacutea del modelo (a) piezas polares y lente objetivo (b) diafragma de lente objetivo (c) diafragma de lente condensadora y (d) piezas polares y lente condensadora

Tabla 1 Paraacutemetros de la configuracioacuten estaacutendar y rangos de variacioacuten

Paraacutemetro Magnitud estaacutendar Rango de variacioacuten

Voltaje de aceleracioacuten 3 kV 1 a 9 kV

Corriente de excitacioacuten 045 A 015 a 135 A

Permeabilidad relativa 1 1 a 9

El voltaje de aceleracioacuten representa la energiacutea de los electrones a la entrada del sistema La velocidad de los electrones (velec) es funcioacuten del voltaje de aceleracioacuten (vacel) de acuerdo con la expresioacuten

carga

(Ecuacioacuten 1)

La corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (Ic) determina la densidad de corriente (Jc) presente en las lentes (ecuacioacuten 8) Luego Jc define la densidad de corriente externa generada (Je) Finalmente B se relaciona con Je y con la permeabilidad relativa de los diafragmas (micror) por medio de la ecuacioacuten 7 Se comprende que afecta la trayectoria de los electrones (Fultz y Howe 2008) En consecuencia la trayectoria de los electrones se modifica con Ic y micror En siacutentesis se considera que los paraacutemetros fiacutesicos que afectan maacutes al comportamiento del haz son Vacel Ic y micror Ademaacutes para simplificar el anaacutelisis se establece que la corriente de excitacioacuten y la geometriacutea de las lentes condensadora y objetivo son las mismas de esta manera ambas poseen la misma densidad de corriente

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Ecuaciones generales que gobiernan el sistema

El movimiento de partiacuteculas cargadas en un campo electromagneacutetico se describe a partir del Lagrangiano (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 2)

Donde v es la velocidad de la partiacutecula [ms] q es la carga de la partiacutecula (q= Ze donde Z es el nuacutemero de carga y e = 1602176x10-19 C es la carga elemental) A es el vector de potencial magneacutetico [Vsm] y V es el escalar de potencial eleacutectrico [JC]

Al transformar el Lagrangiano (ecuacioacuten 1) para bajas velocidades despueacutes restar la energiacutea sobrante y finalmente introducir el teacutermino de la densidad del campo magneacutetico se obtiene la ecuacioacuten del movimiento de una partiacutecula cargada en un campo magneacutetico Esta constituye la ecuacioacuten de la fuerza de Lorentz (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 3)

En esta ecuacioacuten B es la densidad del flujo magneacutetico [T]

Es importante sentildealar que se desprecia el efecto del campo eleacutectrico Por lo tanto no se encuentra el teacutermino ldquo-qErdquo en el lado derecho de la ecuacioacuten De esta manera la ecuacioacuten determina el acoplamiento entre los campos magneacuteticos y la trayectoria de las partiacuteculas cargadas

De acuerdo con COMSOL (2011a) los problemas de electromagnetismo a nivel macroscoacutepico se resuelven por medio de las ecuaciones de Maxwell sujetas a condiciones de frontera a partir de las cuales se obtiene un sistema cerrado Ademaacutes se deben incluir las relaciones constitutivas que describen las propiedades macroscoacutepicas del medio Asiacute se tienen las ecuaciones derivadas de las de Maxwell

(Ecuacioacuten 4)

(Ecuacioacuten 5)

(Ecuacioacuten 6)

donde E es la intensidad de campo eleacutectrico [Vm] D es la densidad de flujo eleacutectrico [Cm2] J es la densidad de corriente [A] ε0 es la permitividad del vaciacuteo μ0 = 4π 10-7 [Hm] es la permeabilidad de vaciacuteo M= XmH es el vector de magnetizacioacuten se interpreta como la densidad volumeacutetrica de momentos dipolares magneacuteticos describe como un material es magnetizado en presencia de un campo magneacutetico H [T] P es el vector de polarizacioacuten eleacutectrica describe como un material es polarizado en presencia de un campo eleacutectrico E Se interpreta como la densidad volumeacutetrica de un momento dipolar eleacutectrico

Dentro de las ecuaciones de Maxwell se encuentra la ley de Ampegravere para estado estacionario A partir de esta ley con los campos magneacuteticos constantes en el tiempo se obtiene la siguiente ecuacioacuten

micro micro (Ecuacioacuten 7)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 65

Eacutesta relaciona la densidad de corriente externa generada Je con la intensidad de campo magneacutetico H= (μ0

-1μr -1B) Ademaacutes se determina a partir de la densidad de corriente (Jc) en la

bobina

(Ecuacioacuten 8)donde es el nuacutemero de arrollamientos de la bobina e es la corriente de excitacioacuten

Resultados y discusioacutenLos graacuteficos presentan la velocidad vertical de los electrones (ms) Ademaacutes la velocidad maacutexima y miacutenima en la escala corresponde a la velocidad maacutexima y miacutenima de los electrones en el haz Los electrones se mueven de abajo hacia arriba Finalmente la discusioacuten se enfoca en el comportamiento del aacutengulo (θ) que forma el haz de electrones con el eje vertical que atraviesa su centro Esto se debe a que brinda informacioacuten del grado de desviacioacuten de los electrones y asiacute de su comportamiento

Figura 2 Configuracioacuten estaacutendar

En la figura 2 la velocidad maacutexima es de 02485x107 ms y la miacutenima de 09658 x107 ms Ademaacutes se aprecia un color claro en el periacutemetro del haz y conforme se acerca a su centro se torna maacutes oscuro Esto indica que los electrones con mayor aacutengulo (θ) con respecto al eje del haz presentan una menor velocidad vertical comparada con la velocidad de los electrones que viajan por el centro del haz

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201566

Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

32

315

31

305

3

295

29

285

280 02 04 06 08 1 12 14 16

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 67

Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201568

El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

3

295

29

285

28

2750 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

3

28

26

24

220 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 69

Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

6

5

4

3

2

1

00 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201570

ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

BibliografiacuteaCentral Microscopy Research Facility University of Iowa (nf) Transmission Electron Microscopy

CERN (nf) About CERN-Accelerators Experiments Physics Obtenido de httphomewebcernchaboutexperi-ments

COMSOL (2011a) Introduction to ACDC Module COMSOL Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload120723IntroductionToACDCModulepdf

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Fultz B amp Howe J (2008) Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 3 ed Springer

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Rose H amp Wan W (2005) Aberration Correction in Electron Microscopy Proceedings of 2005 Particle Accelerator Conference Knoxville Tennessee IEEE 05CH6723C (pp 44-48) Obtenido de httpaccelconfwebcernchAccelConfP05PAPERSWOAC001PDF

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Williams D B amp Carter C B (2009) Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science 2 ed New York Springer Science+Business Media LLC

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Meacutetodos

SimulacioacutenEl TEM analizado es el modelo JEOL 2100 alcanza un vaciacuteo del orden de 10-5 Pa Ademaacutes posee un elemento electromagneacutetico en la columna que atrae los iones a su superficie Por lo tanto si alguacuten ion permanece en el vaciacuteo este va a ser retirado de la regioacuten de flujo de electrones De esta manera se pueden despreciar las colisiones entre partiacuteculas ni siquiera se requiere aproximar estas colisiones utilizando un gas de fondo pues el flujo de electrones praacutecticamente no se expone a colisiones con otras partiacuteculas

La simulacioacuten se realiza a partir del modelo resuelto disponible en la biblioteca virtual del software COMSOL Multiphysics 42a llamado Magnetic lens de la interfaz Charged particle tracing Por lo tanto el fundamento teoacuterico de la simulacioacuten es similar al del modelo resuelto Consecuentemente se verificoacute y complementoacute esta base teoacuterica (COMSOL 2011b)

Se incluye una geometriacutea escalada a tres veces la del modelo base para que el dominio exponga las dimensiones adecuadas con el objetivo de poder apreciar mejor los resultados Se mantiene la proporcioacuten de diaacutemetro sobre longitud de manera que los elementos utilizados en el mallado sean semejantes en todas las direcciones Esto permite utilizar el mismo tipo de mallado que el original Asiacute los errores de las aproximaciones en todas las direcciones son similares Ademaacutes el mallado se ajusta para que la calidad promedio del elemento sea mayor que 07 y que la calidad miacutenima presente el maacuteximo valor para asegurar caacutelculos maacutes acertados Ademaacutes se utiliza el mallado predeterminado free tetrahedral y free triangular pues se ajusta mejor a la geometriacutea Finalmente la solucioacuten calculada converge con este tipo de mallado por lo tanto se considera que es de buena calidad

Ademaacutes los caacutelculos de la simulacioacuten se resuelven por medio del meacutetodo de elementos finitos Primero se calcula la densidad del flujo magneacutetico por medio de la interfaz magnetic fields en un estudio estacionario Con dicho caacutelculo se encuentra el comportamiento del flujo de electrones por medio de la interfaz charged particle tracing en un anaacutelisis transitorio En consecuencia en el tiempo cero no han salido las partiacuteculas pero un tiempo inmediatamente despueacutes son liberadas Asiacute se brindan diversas soluciones en intervalos de 20x10-12s desde 0 s hasta alcanzar el tiempo final 500x10-12 s

Las lentes magneacuteticas utilizadas en los microscopios de transmisioacuten electroacutenica son solenoides cortos (Fultz y Howe 2008) A pesar de que la lente magneacutetica utilizada en el modelo no es un solenoide se asume que es la lente adecuada porque cumple la funcioacuten de variar la trayectoria de los electrones debido a un campo magneacutetico que genera en su eje central Entonces el sistema en su totalidad cuenta con dos lentes magneacuteticas (objetivo y condensadora) y cada una posee un par de piezas polares

Al escalar las magnitudes del modelo se tiene como prioridad la claridad de los resultados con el objetivo de que el lector aprecie el comportamiento del haz Los intervalos de tiempo del modelo no se toman en cuenta para el escalado de sus magnitudes debido a que las partiacuteculas tienen maacutes velocidad a causa del mayor voltaje Este mayor voltaje provoca que las partiacuteculas tengan mayor velocidad y por lo tanto recorran maacutes distancia en menor tiempo Asiacute a pesar de la mayor dimensioacuten del dominio las partiacuteculas lo recorren en un tiempo similar al original

En la simulacioacuten se establece una entrada de 104 electrones que se liberan en un solo tiempo desde el punto inferior de frontera (figura 1) Ademaacutes se establece una configuracioacuten estaacutendar con respecto a la cual se comparan los resultados al variar ciertos paraacutemetros El resto de los paraacutemetros fiacutesico-geomeacutetricos del sistema se mantienen constantes

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 63

Figura 1 Geometriacutea del modelo (a) piezas polares y lente objetivo (b) diafragma de lente objetivo (c) diafragma de lente condensadora y (d) piezas polares y lente condensadora

Tabla 1 Paraacutemetros de la configuracioacuten estaacutendar y rangos de variacioacuten

Paraacutemetro Magnitud estaacutendar Rango de variacioacuten

Voltaje de aceleracioacuten 3 kV 1 a 9 kV

Corriente de excitacioacuten 045 A 015 a 135 A

Permeabilidad relativa 1 1 a 9

El voltaje de aceleracioacuten representa la energiacutea de los electrones a la entrada del sistema La velocidad de los electrones (velec) es funcioacuten del voltaje de aceleracioacuten (vacel) de acuerdo con la expresioacuten

carga

(Ecuacioacuten 1)

La corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (Ic) determina la densidad de corriente (Jc) presente en las lentes (ecuacioacuten 8) Luego Jc define la densidad de corriente externa generada (Je) Finalmente B se relaciona con Je y con la permeabilidad relativa de los diafragmas (micror) por medio de la ecuacioacuten 7 Se comprende que afecta la trayectoria de los electrones (Fultz y Howe 2008) En consecuencia la trayectoria de los electrones se modifica con Ic y micror En siacutentesis se considera que los paraacutemetros fiacutesicos que afectan maacutes al comportamiento del haz son Vacel Ic y micror Ademaacutes para simplificar el anaacutelisis se establece que la corriente de excitacioacuten y la geometriacutea de las lentes condensadora y objetivo son las mismas de esta manera ambas poseen la misma densidad de corriente

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Ecuaciones generales que gobiernan el sistema

El movimiento de partiacuteculas cargadas en un campo electromagneacutetico se describe a partir del Lagrangiano (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 2)

Donde v es la velocidad de la partiacutecula [ms] q es la carga de la partiacutecula (q= Ze donde Z es el nuacutemero de carga y e = 1602176x10-19 C es la carga elemental) A es el vector de potencial magneacutetico [Vsm] y V es el escalar de potencial eleacutectrico [JC]

Al transformar el Lagrangiano (ecuacioacuten 1) para bajas velocidades despueacutes restar la energiacutea sobrante y finalmente introducir el teacutermino de la densidad del campo magneacutetico se obtiene la ecuacioacuten del movimiento de una partiacutecula cargada en un campo magneacutetico Esta constituye la ecuacioacuten de la fuerza de Lorentz (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 3)

En esta ecuacioacuten B es la densidad del flujo magneacutetico [T]

Es importante sentildealar que se desprecia el efecto del campo eleacutectrico Por lo tanto no se encuentra el teacutermino ldquo-qErdquo en el lado derecho de la ecuacioacuten De esta manera la ecuacioacuten determina el acoplamiento entre los campos magneacuteticos y la trayectoria de las partiacuteculas cargadas

De acuerdo con COMSOL (2011a) los problemas de electromagnetismo a nivel macroscoacutepico se resuelven por medio de las ecuaciones de Maxwell sujetas a condiciones de frontera a partir de las cuales se obtiene un sistema cerrado Ademaacutes se deben incluir las relaciones constitutivas que describen las propiedades macroscoacutepicas del medio Asiacute se tienen las ecuaciones derivadas de las de Maxwell

(Ecuacioacuten 4)

(Ecuacioacuten 5)

(Ecuacioacuten 6)

donde E es la intensidad de campo eleacutectrico [Vm] D es la densidad de flujo eleacutectrico [Cm2] J es la densidad de corriente [A] ε0 es la permitividad del vaciacuteo μ0 = 4π 10-7 [Hm] es la permeabilidad de vaciacuteo M= XmH es el vector de magnetizacioacuten se interpreta como la densidad volumeacutetrica de momentos dipolares magneacuteticos describe como un material es magnetizado en presencia de un campo magneacutetico H [T] P es el vector de polarizacioacuten eleacutectrica describe como un material es polarizado en presencia de un campo eleacutectrico E Se interpreta como la densidad volumeacutetrica de un momento dipolar eleacutectrico

Dentro de las ecuaciones de Maxwell se encuentra la ley de Ampegravere para estado estacionario A partir de esta ley con los campos magneacuteticos constantes en el tiempo se obtiene la siguiente ecuacioacuten

micro micro (Ecuacioacuten 7)

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Eacutesta relaciona la densidad de corriente externa generada Je con la intensidad de campo magneacutetico H= (μ0

-1μr -1B) Ademaacutes se determina a partir de la densidad de corriente (Jc) en la

bobina

(Ecuacioacuten 8)donde es el nuacutemero de arrollamientos de la bobina e es la corriente de excitacioacuten

Resultados y discusioacutenLos graacuteficos presentan la velocidad vertical de los electrones (ms) Ademaacutes la velocidad maacutexima y miacutenima en la escala corresponde a la velocidad maacutexima y miacutenima de los electrones en el haz Los electrones se mueven de abajo hacia arriba Finalmente la discusioacuten se enfoca en el comportamiento del aacutengulo (θ) que forma el haz de electrones con el eje vertical que atraviesa su centro Esto se debe a que brinda informacioacuten del grado de desviacioacuten de los electrones y asiacute de su comportamiento

Figura 2 Configuracioacuten estaacutendar

En la figura 2 la velocidad maacutexima es de 02485x107 ms y la miacutenima de 09658 x107 ms Ademaacutes se aprecia un color claro en el periacutemetro del haz y conforme se acerca a su centro se torna maacutes oscuro Esto indica que los electrones con mayor aacutengulo (θ) con respecto al eje del haz presentan una menor velocidad vertical comparada con la velocidad de los electrones que viajan por el centro del haz

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Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

32

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280 02 04 06 08 1 12 14 16

Velo

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iacuten (m

s) E

7

Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

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Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

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El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

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Permeabilidad relativa condensador

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s) E

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Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

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Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

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Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

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Figura 1 Geometriacutea del modelo (a) piezas polares y lente objetivo (b) diafragma de lente objetivo (c) diafragma de lente condensadora y (d) piezas polares y lente condensadora

Tabla 1 Paraacutemetros de la configuracioacuten estaacutendar y rangos de variacioacuten

Paraacutemetro Magnitud estaacutendar Rango de variacioacuten

Voltaje de aceleracioacuten 3 kV 1 a 9 kV

Corriente de excitacioacuten 045 A 015 a 135 A

Permeabilidad relativa 1 1 a 9

El voltaje de aceleracioacuten representa la energiacutea de los electrones a la entrada del sistema La velocidad de los electrones (velec) es funcioacuten del voltaje de aceleracioacuten (vacel) de acuerdo con la expresioacuten

carga

(Ecuacioacuten 1)

La corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (Ic) determina la densidad de corriente (Jc) presente en las lentes (ecuacioacuten 8) Luego Jc define la densidad de corriente externa generada (Je) Finalmente B se relaciona con Je y con la permeabilidad relativa de los diafragmas (micror) por medio de la ecuacioacuten 7 Se comprende que afecta la trayectoria de los electrones (Fultz y Howe 2008) En consecuencia la trayectoria de los electrones se modifica con Ic y micror En siacutentesis se considera que los paraacutemetros fiacutesicos que afectan maacutes al comportamiento del haz son Vacel Ic y micror Ademaacutes para simplificar el anaacutelisis se establece que la corriente de excitacioacuten y la geometriacutea de las lentes condensadora y objetivo son las mismas de esta manera ambas poseen la misma densidad de corriente

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Ecuaciones generales que gobiernan el sistema

El movimiento de partiacuteculas cargadas en un campo electromagneacutetico se describe a partir del Lagrangiano (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 2)

Donde v es la velocidad de la partiacutecula [ms] q es la carga de la partiacutecula (q= Ze donde Z es el nuacutemero de carga y e = 1602176x10-19 C es la carga elemental) A es el vector de potencial magneacutetico [Vsm] y V es el escalar de potencial eleacutectrico [JC]

Al transformar el Lagrangiano (ecuacioacuten 1) para bajas velocidades despueacutes restar la energiacutea sobrante y finalmente introducir el teacutermino de la densidad del campo magneacutetico se obtiene la ecuacioacuten del movimiento de una partiacutecula cargada en un campo magneacutetico Esta constituye la ecuacioacuten de la fuerza de Lorentz (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 3)

En esta ecuacioacuten B es la densidad del flujo magneacutetico [T]

Es importante sentildealar que se desprecia el efecto del campo eleacutectrico Por lo tanto no se encuentra el teacutermino ldquo-qErdquo en el lado derecho de la ecuacioacuten De esta manera la ecuacioacuten determina el acoplamiento entre los campos magneacuteticos y la trayectoria de las partiacuteculas cargadas

De acuerdo con COMSOL (2011a) los problemas de electromagnetismo a nivel macroscoacutepico se resuelven por medio de las ecuaciones de Maxwell sujetas a condiciones de frontera a partir de las cuales se obtiene un sistema cerrado Ademaacutes se deben incluir las relaciones constitutivas que describen las propiedades macroscoacutepicas del medio Asiacute se tienen las ecuaciones derivadas de las de Maxwell

(Ecuacioacuten 4)

(Ecuacioacuten 5)

(Ecuacioacuten 6)

donde E es la intensidad de campo eleacutectrico [Vm] D es la densidad de flujo eleacutectrico [Cm2] J es la densidad de corriente [A] ε0 es la permitividad del vaciacuteo μ0 = 4π 10-7 [Hm] es la permeabilidad de vaciacuteo M= XmH es el vector de magnetizacioacuten se interpreta como la densidad volumeacutetrica de momentos dipolares magneacuteticos describe como un material es magnetizado en presencia de un campo magneacutetico H [T] P es el vector de polarizacioacuten eleacutectrica describe como un material es polarizado en presencia de un campo eleacutectrico E Se interpreta como la densidad volumeacutetrica de un momento dipolar eleacutectrico

Dentro de las ecuaciones de Maxwell se encuentra la ley de Ampegravere para estado estacionario A partir de esta ley con los campos magneacuteticos constantes en el tiempo se obtiene la siguiente ecuacioacuten

micro micro (Ecuacioacuten 7)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 65

Eacutesta relaciona la densidad de corriente externa generada Je con la intensidad de campo magneacutetico H= (μ0

-1μr -1B) Ademaacutes se determina a partir de la densidad de corriente (Jc) en la

bobina

(Ecuacioacuten 8)donde es el nuacutemero de arrollamientos de la bobina e es la corriente de excitacioacuten

Resultados y discusioacutenLos graacuteficos presentan la velocidad vertical de los electrones (ms) Ademaacutes la velocidad maacutexima y miacutenima en la escala corresponde a la velocidad maacutexima y miacutenima de los electrones en el haz Los electrones se mueven de abajo hacia arriba Finalmente la discusioacuten se enfoca en el comportamiento del aacutengulo (θ) que forma el haz de electrones con el eje vertical que atraviesa su centro Esto se debe a que brinda informacioacuten del grado de desviacioacuten de los electrones y asiacute de su comportamiento

Figura 2 Configuracioacuten estaacutendar

En la figura 2 la velocidad maacutexima es de 02485x107 ms y la miacutenima de 09658 x107 ms Ademaacutes se aprecia un color claro en el periacutemetro del haz y conforme se acerca a su centro se torna maacutes oscuro Esto indica que los electrones con mayor aacutengulo (θ) con respecto al eje del haz presentan una menor velocidad vertical comparada con la velocidad de los electrones que viajan por el centro del haz

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201566

Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

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280 02 04 06 08 1 12 14 16

Velo

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s) E

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Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 67

Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201568

El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

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Permeabilidad relativa condensador

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Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 69

Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

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Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201570

ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

BibliografiacuteaCentral Microscopy Research Facility University of Iowa (nf) Transmission Electron Microscopy

CERN (nf) About CERN-Accelerators Experiments Physics Obtenido de httphomewebcernchaboutexperi-ments

COMSOL (2011a) Introduction to ACDC Module COMSOL Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload120723IntroductionToACDCModulepdf

COMSOL (2011b) Magnetic lens Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload184181modelsacdcmagnetic_lenspdf

COMSOL (2011c) Particle Tracing and ACDC Module Userrsquos Guide Versioacuten October 2011 COMSOL 42a

Fultz B amp Howe J (2008) Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 3 ed Springer

Goldstein J Newbury D Echlin P Joy D Lyman C Lifshin E Sawyer L amp Michael J (2007) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 3 ed New York Kluwer AcademicPlenum Publishers

Rose H amp Wan W (2005) Aberration Correction in Electron Microscopy Proceedings of 2005 Particle Accelerator Conference Knoxville Tennessee IEEE 05CH6723C (pp 44-48) Obtenido de httpaccelconfwebcernchAccelConfP05PAPERSWOAC001PDF

Nave R (2000) Ferromagnetism Departamento de Fiacutesica y Astronomiacutea de Georgia State University Obtenido de httphyperphysicsphy-astrgsueduhbasesolidsferrohtmlc5

Wen-ping L Jian W Zhen Z Li-jiang G amp Li H (2009) Practical Integrated Design of a Condenser-objective Lens for Transmission Electron Microscope Journal of Physics Conference Series 188 (2009) 012045 Obtenido de httpiopscienceioporg1742-65961881012045pdf1742-6596_188_1_012045pdf

Williams D B amp Carter C B (2009) Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science 2 ed New York Springer Science+Business Media LLC

Page 6: Simulación del haz de electrones en un TEM como flujo de ... · El Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) constituye una de las mejores herramientas tecnológicas para la

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201564

Ecuaciones generales que gobiernan el sistema

El movimiento de partiacuteculas cargadas en un campo electromagneacutetico se describe a partir del Lagrangiano (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 2)

Donde v es la velocidad de la partiacutecula [ms] q es la carga de la partiacutecula (q= Ze donde Z es el nuacutemero de carga y e = 1602176x10-19 C es la carga elemental) A es el vector de potencial magneacutetico [Vsm] y V es el escalar de potencial eleacutectrico [JC]

Al transformar el Lagrangiano (ecuacioacuten 1) para bajas velocidades despueacutes restar la energiacutea sobrante y finalmente introducir el teacutermino de la densidad del campo magneacutetico se obtiene la ecuacioacuten del movimiento de una partiacutecula cargada en un campo magneacutetico Esta constituye la ecuacioacuten de la fuerza de Lorentz (COMSOL 2011c)

(Ecuacioacuten 3)

En esta ecuacioacuten B es la densidad del flujo magneacutetico [T]

Es importante sentildealar que se desprecia el efecto del campo eleacutectrico Por lo tanto no se encuentra el teacutermino ldquo-qErdquo en el lado derecho de la ecuacioacuten De esta manera la ecuacioacuten determina el acoplamiento entre los campos magneacuteticos y la trayectoria de las partiacuteculas cargadas

De acuerdo con COMSOL (2011a) los problemas de electromagnetismo a nivel macroscoacutepico se resuelven por medio de las ecuaciones de Maxwell sujetas a condiciones de frontera a partir de las cuales se obtiene un sistema cerrado Ademaacutes se deben incluir las relaciones constitutivas que describen las propiedades macroscoacutepicas del medio Asiacute se tienen las ecuaciones derivadas de las de Maxwell

(Ecuacioacuten 4)

(Ecuacioacuten 5)

(Ecuacioacuten 6)

donde E es la intensidad de campo eleacutectrico [Vm] D es la densidad de flujo eleacutectrico [Cm2] J es la densidad de corriente [A] ε0 es la permitividad del vaciacuteo μ0 = 4π 10-7 [Hm] es la permeabilidad de vaciacuteo M= XmH es el vector de magnetizacioacuten se interpreta como la densidad volumeacutetrica de momentos dipolares magneacuteticos describe como un material es magnetizado en presencia de un campo magneacutetico H [T] P es el vector de polarizacioacuten eleacutectrica describe como un material es polarizado en presencia de un campo eleacutectrico E Se interpreta como la densidad volumeacutetrica de un momento dipolar eleacutectrico

Dentro de las ecuaciones de Maxwell se encuentra la ley de Ampegravere para estado estacionario A partir de esta ley con los campos magneacuteticos constantes en el tiempo se obtiene la siguiente ecuacioacuten

micro micro (Ecuacioacuten 7)

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Eacutesta relaciona la densidad de corriente externa generada Je con la intensidad de campo magneacutetico H= (μ0

-1μr -1B) Ademaacutes se determina a partir de la densidad de corriente (Jc) en la

bobina

(Ecuacioacuten 8)donde es el nuacutemero de arrollamientos de la bobina e es la corriente de excitacioacuten

Resultados y discusioacutenLos graacuteficos presentan la velocidad vertical de los electrones (ms) Ademaacutes la velocidad maacutexima y miacutenima en la escala corresponde a la velocidad maacutexima y miacutenima de los electrones en el haz Los electrones se mueven de abajo hacia arriba Finalmente la discusioacuten se enfoca en el comportamiento del aacutengulo (θ) que forma el haz de electrones con el eje vertical que atraviesa su centro Esto se debe a que brinda informacioacuten del grado de desviacioacuten de los electrones y asiacute de su comportamiento

Figura 2 Configuracioacuten estaacutendar

En la figura 2 la velocidad maacutexima es de 02485x107 ms y la miacutenima de 09658 x107 ms Ademaacutes se aprecia un color claro en el periacutemetro del haz y conforme se acerca a su centro se torna maacutes oscuro Esto indica que los electrones con mayor aacutengulo (θ) con respecto al eje del haz presentan una menor velocidad vertical comparada con la velocidad de los electrones que viajan por el centro del haz

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Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

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280 02 04 06 08 1 12 14 16

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Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

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Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

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El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

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Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

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Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

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Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

BibliografiacuteaCentral Microscopy Research Facility University of Iowa (nf) Transmission Electron Microscopy

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COMSOL (2011c) Particle Tracing and ACDC Module Userrsquos Guide Versioacuten October 2011 COMSOL 42a

Fultz B amp Howe J (2008) Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 3 ed Springer

Goldstein J Newbury D Echlin P Joy D Lyman C Lifshin E Sawyer L amp Michael J (2007) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 3 ed New York Kluwer AcademicPlenum Publishers

Rose H amp Wan W (2005) Aberration Correction in Electron Microscopy Proceedings of 2005 Particle Accelerator Conference Knoxville Tennessee IEEE 05CH6723C (pp 44-48) Obtenido de httpaccelconfwebcernchAccelConfP05PAPERSWOAC001PDF

Nave R (2000) Ferromagnetism Departamento de Fiacutesica y Astronomiacutea de Georgia State University Obtenido de httphyperphysicsphy-astrgsueduhbasesolidsferrohtmlc5

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Eacutesta relaciona la densidad de corriente externa generada Je con la intensidad de campo magneacutetico H= (μ0

-1μr -1B) Ademaacutes se determina a partir de la densidad de corriente (Jc) en la

bobina

(Ecuacioacuten 8)donde es el nuacutemero de arrollamientos de la bobina e es la corriente de excitacioacuten

Resultados y discusioacutenLos graacuteficos presentan la velocidad vertical de los electrones (ms) Ademaacutes la velocidad maacutexima y miacutenima en la escala corresponde a la velocidad maacutexima y miacutenima de los electrones en el haz Los electrones se mueven de abajo hacia arriba Finalmente la discusioacuten se enfoca en el comportamiento del aacutengulo (θ) que forma el haz de electrones con el eje vertical que atraviesa su centro Esto se debe a que brinda informacioacuten del grado de desviacioacuten de los electrones y asiacute de su comportamiento

Figura 2 Configuracioacuten estaacutendar

En la figura 2 la velocidad maacutexima es de 02485x107 ms y la miacutenima de 09658 x107 ms Ademaacutes se aprecia un color claro en el periacutemetro del haz y conforme se acerca a su centro se torna maacutes oscuro Esto indica que los electrones con mayor aacutengulo (θ) con respecto al eje del haz presentan una menor velocidad vertical comparada con la velocidad de los electrones que viajan por el centro del haz

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Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

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280 02 04 06 08 1 12 14 16

Velo

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iacuten (m

s) E

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Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

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Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

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El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

3

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Permeabilidad relativa condensador

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220 2 4 6 8 10

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s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

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Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

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Velo

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7

Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201570

ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

BibliografiacuteaCentral Microscopy Research Facility University of Iowa (nf) Transmission Electron Microscopy

CERN (nf) About CERN-Accelerators Experiments Physics Obtenido de httphomewebcernchaboutexperi-ments

COMSOL (2011a) Introduction to ACDC Module COMSOL Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload120723IntroductionToACDCModulepdf

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Goldstein J Newbury D Echlin P Joy D Lyman C Lifshin E Sawyer L amp Michael J (2007) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 3 ed New York Kluwer AcademicPlenum Publishers

Rose H amp Wan W (2005) Aberration Correction in Electron Microscopy Proceedings of 2005 Particle Accelerator Conference Knoxville Tennessee IEEE 05CH6723C (pp 44-48) Obtenido de httpaccelconfwebcernchAccelConfP05PAPERSWOAC001PDF

Nave R (2000) Ferromagnetism Departamento de Fiacutesica y Astronomiacutea de Georgia State University Obtenido de httphyperphysicsphy-astrgsueduhbasesolidsferrohtmlc5

Wen-ping L Jian W Zhen Z Li-jiang G amp Li H (2009) Practical Integrated Design of a Condenser-objective Lens for Transmission Electron Microscope Journal of Physics Conference Series 188 (2009) 012045 Obtenido de httpiopscienceioporg1742-65961881012045pdf1742-6596_188_1_012045pdf

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Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201566

Figura 3 Corriente de excitacioacuten 015 A (izquierda) y 135 A (centro)

En la figura 3 se observa que al incrementarse la corriente de excitacioacuten aumenta el aacutengulo que forma el haz con su eje Ademaacutes el graacutefico de la figura 4 compara los datos de la simulacioacuten estaacutendar con los de la figura 3

325

32

315

31

305

3

295

29

285

280 02 04 06 08 1 12 14 16

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Corriente de excitacioacuten (A)

Figura 4 Graacutefico de corriente de excitacioacuten contra velocidad miacutenima

De acuerdo con las ecuaciones 7 y 8 el comportamiento se debe a que el incremento en la corriente de excitacioacuten provoca un aumento en la densidad del flujo magneacutetico que desviacutea con mayor fuerza las trayectorias de los electrones (Fultz y Howe 2008)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 67

Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201568

El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

3

295

29

285

28

2750 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

3

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26

24

220 2 4 6 8 10

Velo

cida

d m

iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 2015 69

Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

6

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1

00 2 4 6 8 10

Velo

cida

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s) E

7

Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

Tecnologiacutea en Marcha Vol 28 Ndeg 1 Enero-Marzo 201570

ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

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Figura 5 Piezas polares lente condensadora permeabilidad relativa 3 (a) y 9 (b) Piezas polares lente objetivo permeabilidad relativa 3 (c) y 9 (d)

En la figura 5 se observa que al aumentar la permeabilidad relativa de 3 a 9 (200 ) se incrementa el aacutengulo de desviacioacuten de los electrones Seguacuten la ecuacioacuten 7 este comportamiento es similar al teoacuterico puesto que al aumentar la permeabilidad relativa se incrementa la densidad del flujo magneacutetico el cual cruza los electrones con mayor fuerza (Fultz y Howe 2008)

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El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

3

295

29

285

28

2750 2 4 6 8 10

Velo

cida

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iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

3

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220 2 4 6 8 10

Velo

cida

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s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

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Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

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iacuten (m

s) E

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Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

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El graacutefico (b) de la figura 6 muestra 28407x107 ms para permeabilidad relativa 3 y 22421x107 ms para permeabilidad relativa 9 Entonces se deduce un 21 de reduccioacuten en la velocidad miacutenima calculado asiacute 100 x (28407 - 22421) 28407) Anaacutelogamente del graacutefico (a) se calcula un 6 de reduccioacuten en la velocidad Por lo tanto se aprecia que en la lente objetivo se potencia maacutes el cambio de direccioacuten que en la lente condensadora

3

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Velo

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iacuten (m

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Permeabilidad relativa condensador

3

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220 2 4 6 8 10

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iacuten (m

s) E

7

Permeabilidad relativa condensador

(a) (b)

Figura 6 Graacutefico de permeabilidad relativa piezas polares de lente condensadora (a) y objetivo (b) contra velocidad miacutenima

Esto puede deberse al efecto que tiene la configuracioacuten geomeacutetrica del modelo sobre la densidad del flujo magneacutetico alrededor de las lentes magneacuteticas La geometriacutea puede propiciar una mayor densidad alrededor de la lente objetivo No obstante esta hipoacutetesis debe ser verificada por medio del anaacutelisis de la variacioacuten del flujo magneacutetico con respecto a la configuracioacuten geomeacutetrica

En la figura 8 la cumbre del haz de electrones estaacute maacutes cerca de la lente objetivo para un voltaje de aceleracioacuten de 1 kV que para 9 kV Se destaca que todas las figuras de velocidades mostradas corresponden al mismo tiempo de 4375x10-9 s despueacutes de iniciada la simulacioacuten Por lo tanto se comprende que el haz de electrones correspondiente a 1 kV avanza con menor rapidez que el de 9 kV Lo cual se hace evidente al estudiar la ecuacioacuten 7 la cual determina que un incremento en el voltaje de aceleracioacuten aumenta la velocidad de los electrones del haz

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Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

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Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

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Figura 8 Voltaje de aceleracioacuten 1 kV (izquierda) y 9 kV (derecha)

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iacuten (m

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Voiltaje de aceleracioacuten (kV)

Figura 9 Graacuteficos de voltaje de aceleracioacuten contra velocidad miacutenima (izquierda) y contra densidad de flujo magneacutetico maacutexima (derecha)

En las figuras 2 3 y 5 se observa que todos los valores maacuteximos de velocidad son 32485x107

ms En contraste en la figura 8 exponen valores distintos Por lo tanto se puede inferir que entre los paraacutemetros analizados solamente el voltaje de aceleracioacuten afecta la velocidad maacutexima que alcanzan los electrones en el haz Esto se verifica al analizar la ecuacioacuten 1

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

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ConclusionesEl aacutengulo que forma el haz de electrones con respecto a su eje vertical (θ) es inversamente proporcional al voltaje de aceleracioacuten (θ prop 1Vacel) En contraste este aacutengulo es directamente proporcional a la corriente de excitacioacuten de las lentes magneacuteticas (θ prop Iexc) y tambieacuten a la permeabilidad relativa de las piezas polares (θ prop micror)

El aacutengulo es inversamente proporcional a la velocidad vertical de los electrones en el haz (θ prop 1Vvert)

Un incremento del 200 en la permeabilidad relativa de las piezas polares de las lentes condensadora y objetivo reduce la velocidad miacutenima en 6 y 21 respectivamente Por lo tanto el modelo favorece la desviacioacuten de los electrones en la lente objetivo al aumentar la permeabilidad relativa por igual en ambas lentes

La velocidad maacutexima de los electrones es proporcional al voltaje de aceleracioacuten ninguacuten otro paraacutemetro analizado la afecta

BibliografiacuteaCentral Microscopy Research Facility University of Iowa (nf) Transmission Electron Microscopy

CERN (nf) About CERN-Accelerators Experiments Physics Obtenido de httphomewebcernchaboutexperi-ments

COMSOL (2011a) Introduction to ACDC Module COMSOL Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload120723IntroductionToACDCModulepdf

COMSOL (2011b) Magnetic lens Versioacuten October 2011 COMSOL 42a Obtenido de httpwwwcomsolcommodeldownload184181modelsacdcmagnetic_lenspdf

COMSOL (2011c) Particle Tracing and ACDC Module Userrsquos Guide Versioacuten October 2011 COMSOL 42a

Fultz B amp Howe J (2008) Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 3 ed Springer

Goldstein J Newbury D Echlin P Joy D Lyman C Lifshin E Sawyer L amp Michael J (2007) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 3 ed New York Kluwer AcademicPlenum Publishers

Rose H amp Wan W (2005) Aberration Correction in Electron Microscopy Proceedings of 2005 Particle Accelerator Conference Knoxville Tennessee IEEE 05CH6723C (pp 44-48) Obtenido de httpaccelconfwebcernchAccelConfP05PAPERSWOAC001PDF

Nave R (2000) Ferromagnetism Departamento de Fiacutesica y Astronomiacutea de Georgia State University Obtenido de httphyperphysicsphy-astrgsueduhbasesolidsferrohtmlc5

Wen-ping L Jian W Zhen Z Li-jiang G amp Li H (2009) Practical Integrated Design of a Condenser-objective Lens for Transmission Electron Microscope Journal of Physics Conference Series 188 (2009) 012045 Obtenido de httpiopscienceioporg1742-65961881012045pdf1742-6596_188_1_012045pdf

Williams D B amp Carter C B (2009) Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science 2 ed New York Springer Science+Business Media LLC


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